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产品描述
SHR是一款低成本高精度的激光波长测量仪器,适合各种激光应用,例如固体激光器的调谐和测试,半导体激光器,染料激光器和OPO。
SHR的光学结构基于中阶梯色散光栅(产生高阶色散)和线性CCD传感器(探测器)。仪器内部不含任何可移动部件,通过高速USB接口连接到计算机进行供电和控制,对通过光纤和衰减器到达SHR输入狭缝的光信号进行分析。
SHR可以对CW和脉冲激光进行快速便捷地测量,获得波长数据,精度可以达到± 3 pm,波长范围190-1100nm,可以测量谱线的FWHM,分辨率可以达到30000 λ/Δλ ,UV区域可以达到6pm分辨率,IR区域40pm。SHR也可以用于激光波长的在线测量和分析。
SHR光谱仪不适合用于光谱的直接测量,但是它可以分析比较窄的谱宽,UV区域0.5nm(190nm)到IR区域18nm(1200nm),可以用滤光片或者其他光谱设备来分解。
主要特性
- 高精度和宽光谱范围
- 可用于光谱分析
- 适合连续和脉冲激光
- 紧凑设计,没有运动部件
- 光纤输入耦合到衰减器
- 功能强大的软件
应用场景
Fig.1. SHR在各个波长的光谱分辨率
Fig.2. SHR在各个波长的光谱分析带宽
SHR的测量结果可靠。
以下是测量示例,Nd:YAG激光器在两个工作模式下:自由运行模式和调Q模式。 在自由运行模式下,1064nm
的线宽是40pm,SHR无法解析该谱线的半高全宽,如下图,在调Q模式下,谱线较宽,可以通过SHR测量。
Fig.3.Nd: YAG激光器,自由运行模式,λ = 1064.159 nm, FWHM<0.04nm
Fig.4. Nd:YAG laser, 调Q模式, λ = 1064.161 nm, FWHM=0.077nm
详细参数
工作模式 | 连续和脉冲(需要外部触发) |
光谱范围 | 190 - 1100 nm |
精度 | ± 3 pm |
光谱分辨率(仪器功能, λ/ΔλFWHM) | 30 000 (从 6pm at 193nm 到 40pm at 1200nm, 参考 Fig.1) |
光源线宽要求 | ≤125 см-1 (从 0.5nm at 193nm 到 18nm at 1200nm, 参考Fig.2) |
灵敏度 | less than 0.5 μW at 632.8nm for min exposure time of 7msec |
光学接口 |
|
计算机接口 | 高速USB |
软件 | WLMeter |
尺寸 | 165 х 215 х 90 mm |
重量 | 2.6 kg |
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