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高精度波长计
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产品描述

SHR是一款低成本高精度的激光波长测量仪器,适合各种激光应用,例如固体激光器的调谐和测试,半导体激光器,染料激光器和OPO。

SHR的光学结构基于中阶梯色散光栅(产生高阶色散)和线性CCD传感器(探测器)。仪器内部不含任何可移动部件,通过高速USB接口连接到计算机进行供电和控制,对通过光纤和衰减器到达SHR输入狭缝的光信号进行分析。

SHR可以对CW和脉冲激光进行快速便捷地测量,获得波长数据,精度可以达到± 3 pm,波长范围190-1100nm,可以测量谱线的FWHM,分辨率可以达到30000 λ/Δλ ,UV区域可以达到6pm分辨率,IR区域40pm。SHR也可以用于激光波长的在线测量和分析。

SHR光谱仪不适合用于光谱的直接测量,但是它可以分析比较窄的谱宽,UV区域0.5nm(190nm)到IR区域18nm(1200nm),可以用滤光片或者其他光谱设备来分解。

主要特性

- 高精度和宽光谱范围

- 可用于光谱分析

- 适合连续和脉冲激光

- 紧凑设计,没有运动部件

- 光纤输入耦合到衰减器

- 功能强大的软件

应用场景

Fig.1. SHR在各个波长的光谱分辨率

Fig.2. SHR在各个波长的光谱分析带宽

SHR的测量结果可靠。

以下是测量示例,Nd:YAG激光器在两个工作模式下:自由运行模式和调Q模式。 在自由运行模式下,1064nm

的线宽是40pm,SHR无法解析该谱线的半高全宽,如下图,在调Q模式下,谱线较宽,可以通过SHR测量。

Fig.3.Nd: YAG激光器,自由运行模式,λ = 1064.159 nm, FWHM<0.04nm

Fig.4. Nd:YAG laser, 调Q模式, λ = 1064.161 nm, FWHM=0.077nm

详细参数

工作模式

连续和脉冲(需要外部触发)

光谱范围

190 - 1100 nm

精度

± 3 pm

光谱分辨率(仪器功能, λ/ΔλFWHM)

30 000

(从 6pm at 193nm 到 40pm at 1200nm, 参考 Fig.1)

光源线宽要求

≤125 см-1

(从 0.5nm at 193nm 到 18nm at 1200nm, 参考Fig.2)

灵敏度

less than 0.5 μW at 632.8nm for min exposure time of 7msec

光学接口

  • 光纤 400 μm dia., 1000mm length, 接口SMA-905

  • 散射衰竭器FA-3,配合SMA-905接口

  • 直接输入,无需光纤

计算机接口

高速USB

软件

WLMeter

尺寸

165 х 215 х 90 mm

重量

2.6 kg

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