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高灵敏度XRF重金属分析仪（HS XRF®）
一、概述
核心技术：
硬件：单色化聚焦技术HS XRF®
软件：快速基本参数法Fast FP®
PHECDA-PRO
l硬件核心技术：单色化聚焦激发技术
全聚焦双曲面弯晶仅衍射X射线管出射谱中高强特征X射线，将入射到样品的X射线单色化并聚焦到样品一点，因此从样品出射的X射线除了样品中的元素被激发产生的荧光X射线和单色化入射谱线的散射线外，不存在连续散射背景，从而保证待测元素特征线具有极低的背景干扰。
单色化聚焦激发技术
l软件核心技术：快速基本参数法
XRF法面临的难题是基体效应、元素间吸收-增强效应、标准样品欠缺等问题，对于不同类型样品的定量分析带来挑战。
快速基本参数法（Fast FP®）通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，将物理学明确的物理现象建立相应的数学模型，基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异，减少分析误差，通过少数标准品的校正即可得到元素精确定量分析结果。 Fast FP快速基本参数法
二、应用领域与解决方案
高灵敏度XRF重金属分析仪PHECDA与快速基本参数法联用提供行业解决方案：
解决方案 | 解决问题 | 应用特点 | 应用领域 |
土壤无机元素分析 | l满足《GB15618-2018 土壤环境质量农用地土壤环境污染风险管控标准》中重金属限量值检测要求 l满足《GB36600-2018土壤环境质量建设用地土壤污染风险管控标准》中重金属限量值检测要求 l各类土壤与沉积物中60多种无机元素含量分析 | l优化镉的检出能力，土壤镉的检出限达到0.05mg/kg lFast FP算法消除土壤基体差异，达到土壤无机元素精确定量分析 | 环境监测、地质地矿、土壤检测、大学科研 |
水质重金属检测 | l满足地表水、地下水、生活饮用水、企业排污水等重金属限值含量检测 l环境水质污染事件重金属含量现场快速检测 | l**的重金属富集膜片技术（HMET）与HS XRF联用，将水质重金属检出限降低至1-2ug/L | 环境水质应急监测、环境水质现场检测 |
固废重金属检测 | l满足固废中23种有毒元素以及重金属快速定量分析 l危废鉴别-毒性元素含量分析 | lFast FP对各类固体废物的基体自适应 l样品处理简单，快速定量分析 | 环境监测、环境司法鉴定、科学研究、固废处理企业 |
PM2.5无机元素分析 | l满足《HJ 829-2017 环境空气颗粒物中无机元素的测定能量色散X射线荧光光谱法》 l提供从PM2.5无机元素分析到污染源溯源数据分析 | lPM2.5膜片中三十几种无机元素含量快速含量分析 lFast FP完成无标样（或少标样）情况下PM2.5膜片元素含量分析 | 环境监测、空气污染源调查、科学研究 |
食品重金属快速检测 | l满足《GB2762-2017食品安全国家标准食品中污染物限量》中部分食品重金属限量值检测要求 l水产品、肉类、调味品、水果蔬菜、粮食、茶叶等食品及其制品中铅、镉、砷、铬、镍、锡等重金属含量检测 | l提供全套食品前处理设备与方案，样品处理简单，检测速度快 lFast FP软件对各类食品基体的自适应 l与实验室参比方法高度一致性 | 食品安全领域、公安系统食品安防、海关食品监管 |
矿石全元素分析 | l铁矿石、铅矿石、铜精矿、锰矿石等无机元素含量分析 l矿石中有害元素（铅、砷、汞、镉等）含量分析 l稀土元素含量分析 | l提供现场矿石元素含量整体解决方案 lFast FP算法对各类矿石产品的精确定量分析能力 | 地质、矿产、有色、海关 |
中药重金属含量检测 | l满足中国药典规定的中药重金属（铅、镉、砷、铜）限量值含量检测要求 | lFast FP算法对各类中药基体的适应与背景扣除 l快速、简单、精确 | 中药行业 |
石化产品中金属元素含量分析 | l满足汽柴油产品中铁、锰、铅限量值含量检测 l润滑油、机油、汽柴油等各类油品中金属元素含量分析 | l对石化产品中金属元素检出限达到0.1mg/kg水平 l二十多种金属元素同步分析 | 石油化工 |
水泥窑协同处置 | l满足环保和建材行业对水泥窑协同处置中规定的从生料、熟料到水泥及水泥浸出物的重金属元素含量检测 l水泥工业全元素（钠、镁、铝、硅、铁、钙、氯等）含量分析，分析添加材对水泥质量影响的判断 | lFast FP算法对各类样品基体的自适应 l重金属膜片富集技术（HMET）满足水泥熟料浸出物中重金属含量检测 | 建材工业、水泥企业 |
三、特点优势
高灵敏度XRF重金属分析仪具备重金属痕量检测能力，快速基本参数法（Fast FP）提升了元素精确定量水平，两项关键技术的结合，为XRF元素检测带来新的应用前景。
l单色化聚集激发技术
高灵敏度XRF重金属分析仪采用双曲面弯晶单色化器，优化元素的激发效率与减少X射线管连续散射线背景，提升元素荧光射线的信噪比。
l采用**性能SDD探测器
硅漂移探测器（SDD）是能量色散X射线荧光光谱仪的核心部件，其性能取决于晶体面积、**计数率、分辨率等，PHECDA 系列采用当今**性能的SDD探测器，确保元素分析性能。
lFast FP算法
XRF分析的困难点是元素荧光强度不仅与样品中元素含量相关，也与其它元素含量有关，这就是所谓的基体吸收-增强效应，而这种物理效应，使得选择合适的标准样品成为困难，若选择的标准样品基体不一致、不能含盖待测样品的各元素含量范围，就会对实际样品分析带来误差。
基本参数法（Fundamental parameters method）通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，建立相应的数学模型，基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异，减少分析误差，通过少数标准品的校正即可得到元素定量分析结果。
l优化镉元素检出能力
镉是有毒重金属，在环境保护和食品安全等领域备受关注，常规XRF对镉（Kα：23.1KeV）的激发和探测存在挑战，高灵敏度XRF重金属分析仪通过对镉的单色化聚焦激发，对镉的检出限达到****的0.06mg/kg水平。
l便携性
无需气体、真空等辅助设备
**程度保证现场检测要求
四、应用
l痕量元素检出能力
单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪是安科慧生的**技术，依赖全聚焦性双曲面弯晶单色化聚焦技术，提升元素信号强度的同时大幅降低散射线背景，大幅提升样品元素信噪比，从而将XRF对元素分析延伸至微量和痕量应用领域。
l软件精确定量能力
安科慧生科研人员历时十几年开发当今*为先进的快速基本参数法（Fast FP），其通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，建立相应的数学模型，快速基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异，减少分析误差，通过少数标准品的校正即可得到元素定量分析结果。
声明：1.高灵敏度X射线荧光光谱仪是安科慧生***，任何侵权行为有可能诉讼法律解决；
2.详细技术参数与应用，请随时与安科慧生工作人员联系！
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