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单波长色散X射线荧光光谱仪DUBHE-1610超低硫含量分析
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单波长色散X射线荧光光谱仪

Monochromatic Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence SpectrometerMWD XRF

特点:

  • 灵敏:高选择性检测硫元素,检测限达到0.4PPM,是针对硫元素*灵敏的X射线荧光光谱仪

  • 稳定:XFS(X-Ray Fixed System)**技术,光路工厂精密调谐后,不再产生位移或偏差,**限度的保证了仪器的长期稳定性

  • 快速:单个样品准备时间小于10秒钟;单个样品分析时间*长300秒;开机10分钟内即可测试样品

  • 经济:单个样品消耗小于4元/样品,无气体、溶剂等消耗

  • 方便:使用ESP:Easy Sample Prepare装置,使得样品杯与膜成型变得简单;长时间使用无硬件更换;无需经常校正标准曲线

原理:X射线光管出射谱是由连续谱线和特征谱线组成,初级全聚焦双曲面弯晶仅衍射X射线光管出射谱中的高强度的特征X射线,从而入射到样品的X射线具有极好的单色性,因此从样品出射的X射线除了样品中的元素被激发产生的荧光X射线(线光谱)和单色入射线的瑞利散射和康普顿散射以外,不存在连续线散射背景。单色入射Cr:Kα线激发样品中的硫Kα线,硫Kα线进一步被大面积全聚焦双曲面弯晶收集,聚焦到探测器中检出,从而实现对样品中硫元素高选择性和高灵敏度检测。

*低检出限LLD0.4ppm

测量范围:0.4ppm--5%

测量时间:60--300

重复性:Sn-10.2ppm2ppm),0.5ppm10ppm),2.5ppm50ppm

北京安科慧生科技有限公司出品

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