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RTM-VA全角度光谱测量台
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RTM-VA全角度光谱测量台

材料中的很多成份,以不同角度入射,得到的透射率和反射率会发生变化。通过测量不同角度入射,研究材料的*敏感角度,为进一步研究或设计测量仪器提供依据。

RTM-VA全角度光谱测量台可以搭配光谱仪、光源及其他测量附件,可以对材料进行不同角度入射和接收的光谱测量,适用于各种表面平整的样品光谱测量。采用电控独立双轴设计,高精度步进电机控制发射端和接收端的角度,角度分辨率0.05°。光谱范围220-2500nm(可选择不同配置),电脑软件选择发射端和接收端的角度,实现快速的光谱测量,能够满足透射/反射/散射/荧光/辐射等多种模式的全角度光谱测量应用的需求。

入射端带有一个旋转偏振片架和一个滤波片架,可以放置一个偏振片和滤波片。接收端带有一个滤波片架,可以放置一个滤波片、偏振片或者波片。各种波长的范围的偏振片、滤波片和波片可供选择。

应用领域:

§光子晶体器件 §传感器器件制备 §液晶显示

§纳米光学材料 §材料镀膜 §角度相关材料分析

§LED光源等

主要特点:

  • 全角度测量:发射端角度范围0°至180°,接收端角度范围0°至360°,可以实现反射、透射、散射、荧光和辐射的全角度光谱测量。

  • 精确角度控制:高精度电机,角度精度及重复性能优异。

  • 多光谱测量模式:可以实现上反射、下反射、透射、散射/荧光、辐射等多种光谱测量。

  • 可编程测量模式:可以通过编程,来实现自动多角度光谱测量。

  • 自由测量模式:可以任意控制样品台的入射角、接收角,实现光谱测量。

  • 可选配件多样:根据客户的不同测量应用,可以选择不同的光源、滤光片、偏振片等配件完成不同的测量应用。

  • 多维调节样品台:样品台由高精度三维位移台和二维倾斜台组成,可实现样品的五维正交调节。

光谱角度测量模式

反射测量(上反射/下反射)模式 透射测量模式

散射/荧光测量模式 辐射测量模式

参数指标

参数/型号

RTM-VA

RTM-VAS

光谱范围

360-2500nm

360-2500nm

光源

含钨灯光源

含钨灯光源和积分球

光斑大小

*小3mm

*小5mm

入射角范围

0-180°

0-180°

接收角范围

0-360°

0-180°

角度分辨率

0.05°

测量对象

平面样品、发光样品

镜面样品、曲面样品

应用

反射、透射、散射、荧光测量

反射率、透过率测量

可选配件

紫外扩展模块

RTM-UV

250-2500nm

光谱仪

USB2000+

350-1000nm

QEPRO

350-1100nm

NIRQUEST

900-2500nm

光源

DH-2000

220-2500nm

偏振片

PLine-UV

PLine-VIS-A

400-700nm

PLine-VIS-B

600-1100nm

PLine-NIR-A

1050-1700nm

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