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理学全新智能型X射线衍射仪NEW SmartLab
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日本
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仪器介绍: 全新智能X射线衍射仪SmartLab系列,是当今世界高性能的多功能的X射线衍射仪,它采用了理学**的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance,一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。技术参数: 1X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶

2、测角仪为水平测角仪

3、测角仪*小步进为1/10000度,高精度测角仪(双光学编码、直接轴上定位)(理学**)

4、测角仪配程序式可变狭缝

5、自动识别所有光学组件、样品台(理学**)

6CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(理学**)

7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)

8、多用途薄膜测试组件

9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件

10In-Plane测试组件(理学独有)

11、入射端Ka1光学组件

12、高速探测器D/teX-Ultra(能量分辨率20%以下)

13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器,可以接收直射X射线)

14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance(**)

主要特点:智能X射线衍射仪SmartLab系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品

主要的应用有:

1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld定量分析 5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度 6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构 7. 小角散射与纳米材料粒径分布 8. 微区样品的分析

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