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OLED/QLED发光器件寿命测试系统
OLED/QLED发光器件寿命测试系统的图片
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暂无
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北京
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OLED/QLED 发光器件寿命测试系统

32 路系统 64 路系统

OLED/QLED 发光器件寿命测试系统参数

项目

关键指标

备注

通道数量

32、64、128

可扩展到512 路

测量模式1

恒流、恒压、恒亮度

需根据客户需求选定

测量模式2

Pulse 电压、Pulse 电流

选配

电流输出

0.03uA~100mA,精度优于±1%

用户参照核心技术电流源选配

电压输出

饱和亮度

1.0~20V,精度<±1% 通常10000cd/m2 以上

标配

可根据客户需求定制

器件结构

底发光、顶发光、倒装、正装

需根据用户需求定制

测试盒/ 夹具

测试基片尺寸 5cm×5cm

可定制支持20cm×20cm

高温测试

RT+10 度~100 度;-50 度~100 度;环境测试

选配

特殊条件

特殊气氛测试;手套箱测试;UPS 电源等

选配、定制

软件平台

LabView

稳定、高效

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