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简单介绍
采用光纤锥耦合X射线探测器，**限度的提高了光通量，用1：1的光纤面板，耦合效率可达到70%，大大提高了相机的探测能力。图像不失真，不需要对影像进行较正，可以让系统的软件变得更简单
X射线探测器 的详细介绍
高耦合效率，降低设备X光源的投入
影像不失真，让系统软件变得更简单
采用光纤锥耦合的X射线探测器，**限度的提高了光通量，用1：1的光纤面板，耦合效率可达到70%，大大提高了相机的探测能力。图像不失真，不需要对影像进行较正，可以让系统的软件变得更简单。
此相机广泛的应用于工业无损检测，如铸件和焊接检测、PCB板检测、工业CT等。
BGA检查 IC焊脚检查 二极管质量检查 金线检查
产品规格：
标准产品有以下三个型号，根据X光源不同，要求分辨率以及目标物的厚度不同，有可能需要改变荧光屏材料和厚度。我们向您提供**的解决方案。
产品型号 | HR-25-X-Ray | HR-40-X-Ray | HR-75-X-Ray |
CCD芯片 | 2/3’’芯片，752*582 | 2/3’’芯片，1392*1040 | 1.2’’芯片，2048*2048 |
像素尺寸 | 11.6um*11.2um | 6.45um*6.45um | 7.4um*7.4um |
输出格式 | 标准CCIR模拟型号输出 | 8bit或12bit数字信号输出 | 8bit或12bit数字信号输出 |
帧速 | 视频速度 | 17帧或30帧 | 15帧 |
计算机接口 | 无 | 1394或以太网接口 | 以太网接口 |
视场 | 20mm*15mm（其它可选） | 32mm*24mm（其它可选） | 45um*45um |
荧光屏镀膜 | P43(其它可选) | P43(其它可选) | P43(其它可选) |
X光响应范围 | 20kev-100kev | 20kev-100kev | 20kev-100kev |
入射光窗 | 0.5mm厚铝膜（其它可选） | 0.5mm厚铝膜（其它可选） | 0.5mm厚铝膜（其它可选） |
分辨率 | 50um | ≤50um，10lp/mm | ≤50um，11 lp/mm |
HR-75-X-Ray
400万像素高分辨率；选用75:25的光纤锥耦合，视野可达到45mm X 45mm.
HR-40-X-Ray
140万像素高分辨率；选用40:11的光纤锥耦合，视野可达到32mm X 24mm.
HR-25-X-Ray
体积小巧，直径仅55mm，长68mm，易于安装；分辨率高；动态范围好。
量子效率曲线图
（P43荧光屏（25mg/cm2）， 厚度：55um）
定制产品：
我们可根据客户的需求定制X-Ray相机
荧光屏类型和厚度
附加层（如Alu，ITO）
输入窗口类型和厚度
相机电子部分（如计算机接口）
制冷（针对于部分型号）
真空接口
视野大小
空间分辨率
应用领域
医学成像设备：
牙科X光成像
眼科成像
X射线断层成像
局部骨骼成像
工业检测设备：
PCB或BGA 检查
半导体缺陷检查
食品安全检查
X光光斑成像
无损探伤
电线检查
安防设备：
紫外线导弹预警
距离选通激光雷达
夜视相机
爆炸物探测
指纹获取
火灾探测
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