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X射线探测器
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样本:
暂无
型号:
产地:
加拿大
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产品简介

简单介绍

采用光纤锥耦合X射线探测器,**限度的提高了光通量,用1:1的光纤面板,耦合效率可达到70%,大大提高了相机的探测能力。图像不失真,不需要对影像进行较正,可以让系统的软件变得更简单

X射线探测器 的详细介绍

高耦合效率,降低设备X光源的投入

影像不失真,让系统软件变得更简单

采用光纤锥耦合的X射线探测器,**限度的提高了光通量,用1:1的光纤面板,耦合效率可达到70%,大大提高了相机的探测能力。图像不失真,不需要对影像进行较正,可以让系统的软件变得更简单。

此相机广泛的应用于工业无损检测,如铸件和焊接检测、PCB板检测、工业CT等。

BGA检查 IC焊脚检查 二极管质量检查 金线检查

产品规格:

标准产品有以下三个型号,根据X光源不同,要求分辨率以及目标物的厚度不同,有可能需要改变荧光屏材料和厚度。我们向您提供**的解决方案。

产品型号

HR-25-X-Ray

HR-40-X-Ray

HR-75-X-Ray

CCD芯片

2/3’’芯片,752*582

2/3’’芯片,1392*1040

1.2’’芯片,2048*2048

像素尺寸

11.6um*11.2um

6.45um*6.45um

7.4um*7.4um

输出格式

标准CCIR模拟型号输出

8bit或12bit数字信号输出

8bit或12bit数字信号输出

帧速

视频速度

17帧或30帧

15帧

计算机接口

1394或以太网接口

以太网接口

视场

20mm*15mm(其它可选)

32mm*24mm(其它可选)

45um*45um

荧光屏镀膜

P43(其它可选)

P43(其它可选)

P43(其它可选)

X光响应范围

20kev-100kev

20kev-100kev

20kev-100kev

入射光窗

0.5mm厚铝膜(其它可选)

0.5mm厚铝膜(其它可选)

0.5mm厚铝膜(其它可选)

分辨率

50um

≤50um,10lp/mm

≤50um,11 lp/mm

HR-75-X-Ray

400万像素高分辨率;选用75:25的光纤锥耦合,视野可达到45mm X 45mm.

HR-40-X-Ray

140万像素高分辨率;选用40:11的光纤锥耦合,视野可达到32mm X 24mm.

HR-25-X-Ray

体积小巧,直径仅55mm,长68mm,易于安装;分辨率高;动态范围好。

量子效率曲线图

(P43荧光屏(25mg/cm2), 厚度:55um)

定制产品:

我们可根据客户的需求定制X-Ray相机

  • 荧光屏类型和厚度

  • 附加层(如Alu,ITO)

  • 输入窗口类型和厚度

  • 相机电子部分(如计算机接口)

  • 制冷(针对于部分型号)

  • 真空接口

  • 视野大小

  • 空间分辨率

应用领域

医学成像设备:

  • 牙科X光成像

  • 眼科成像

  • X射线断层成像

  • 局部骨骼成像

工业检测设备:

  • PCB或BGA 检查

  • 半导体缺陷检查

  • 食品安全检查

  • X光光斑成像

  • 无损探伤

  • 电线检查

安防设备:

  • 紫外线导弹预警

  • 距离选通激光雷达

  • 夜视相机

  • 爆炸物探测

  • 指纹获取

  • 火灾探测

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