探测器:
BSD, SED (可选), EDS (可选)加速电压:
4.8kV-20.5kV连续可调电子枪:
CeB6电子光学放大:
200,000X光学放大:
3-19X分辨率:
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飞纳台式扫描电镜大样品室版 Phenom XL G2
Phenom XL (电镜腔室 100mm x 100mm)具有飞纳电镜系列以下优点:
超高分辨
—— 10 nm,**采用长寿命 1500 小时、高亮度的 CeB6 灯丝
快速成像
—— 抽真空时间小于 30 秒
简易操作
—— 光学 + 低倍电子导航定位,结合全自动马达样品台移动观测位置
直接观测绝缘体
—— 低真空设计,实现不喷金看绝缘体,且不影响灯丝寿命
高度自动化
—— 自动聚焦,自动调节对比度亮度,拍照简单快速
放置环境无特殊要求
—— 无需独立实验室,无需超净间
防震设计
—— 紧凑的一体化设计,可不用防震台摆放在高层
产品参数
光学显微镜:放大 3-16 倍
电子显微镜:200,000 倍
探测器:高灵敏度四分割背散射电子探测器
灯丝材料:1,500 小时 CeB6 灯丝
分辨率:优于 8 nm
放置环境:采用专业防震设计,可摆放于普通实验室或办公室、厂房
加速电压:4.8kV-20.5kV 连续可调
抽真空时间:小于 30 秒
能谱仪:可选配能谱仪
同时,Phenom XL 做出了如下改进,使其在拥有台式扫描电镜操作简单等特点的前提下,具备大型落地式电镜的高分辨率、多功能和拓展性强等优势:
Phenom XL 大样品室**版可选配所有的拓展功能软件选件,如 3D 粗糙度重建,纤维统计分析测量系统,颗粒统计分析测量系统,孔径统计分析测量系统。
● 全自动显微平台Phenom XL + 拉伸台
飞纳电镜此次的新品发布会上会呈现的产品——拉伸台。此产品也是飞纳台式扫描电镜Phenom XL 一项重大拓展。拉伸台是一种动态观察和分析材料微观变形形貌及断裂机制的手段,在材料科学前沿研究中发挥了重要作用。扫描电镜原位拉伸台的**特点是,在进行应力—应变力学定量测试的同时, 利用扫描电镜的强大的景深、高空间分辨和分析功能,在微观层面上对材料的力学性能进行动态研究。拉伸台可以为很多材料做拉伸测试,如金属材料(研究韧断过程、应力诱发相变及塑性变形),高分子材料,陶瓷材料等。飞纳台式扫描电镜的原位拉伸台能实现 2N to 1000N 的拉力区间,拉伸速度可实现 0.1mm/min 到 15mm/min,满足几乎所有领域样品的原位拉伸观测。
飞纳台式扫描电镜大样品室版 Phenom XL 拉伸台
颗粒统计分析测量系统
颗粒统计分析测量系统软件可以轻松获取、分析图片,并生成报告。借助该软件,用户可以收集到大量亚微米颗粒的形貌和粒径数据。凭借远超光镜的放大倍数,颗粒软件全自动化的测量,可以把工业粉末的设计、研发和品管提升到一个新台阶。
借助颗粒系统软件,用户可随时获得数据。因此,它加快了分析速度,并提高了产品质量。
台式扫描电镜在粉末冶金领域的应用
1. 粉体形貌、粒度观察(<10000×,低压SED)
2. 粉体粒度统计(使用飞纳电镜软件-颗粒统计分析测量系统)
3. 烧结件缺陷检查(使用飞纳电镜软件-超大视野自动全景拼图)
4. 成品表面质量检查+杂质判定(扫描电镜+能谱)
5. 脱脂前后形貌观察
拉伸台,颗粒统计分析测量系统
2020-12-09
今年 11 月 2 日起,每日早七点至晚八点,包括延安高架、南北高架在内的多条道路禁止“外牌”、“临牌”小客车、未载客的出租车等通行。因为新能源汽车车牌较容易获得,不少人转投新能源汽车,因此带动了新能
2020-12-21
随着钢铁行业进入微利时代,生产具有更高附加值的高品质洁净钢也成为钢铁企业自身发展的需求。因此,洁净钢技术研究及其生产工艺控制技术目前已是各钢铁企业的重要课题。生产洁净钢的关键在于减少钢中的杂质,而控制
2020-12-21
2020-12-21
想要同时扫描“大尺寸”与“高密度”样品,却被传统显微CT的穿透力和空间限制束缚?NEOSCAN 重磅推出 NXL 台式大仓显微 CT 系统,打破边界,精准进化,开启高穿透力台式扫描新时代!
2025 年 3 月 25 日国家药监局 国家卫生健康委颁布了2025 年版《中华人民共和国药典》扫描电镜首次被写入《中国药典》飞纳电镜采用符合药典标准的六硼化铈(CeB6)灯丝符合药典的样品制备方法
在材料科学和纳米技术领域,精确制备高质量的透射电子显微镜(TEM)和扫描透射电子显微镜(STEM)样品是实现原子级分辨率成像和分析的关键。Technoorg Linda 公司生产的 Gent
核壳纳米粒子因其独特的表面和体积特性,在多个领域具有重要应用。通过改变壳层的厚度和材料,可以调节纳米粒子的性质。科罗拉多大学(Forge Nano 粉末原子层沉积技术发源地)Steven George
农业科学的发展依赖于高效、精准的检测技术,以优化作物生长环境、提高种子质量、改良农作物品种。传统的农业检测方法,如光学显微镜、石蜡切片、激光共聚焦显微镜等,往往局限于二维成像,且检测过程耗时费力,难以