看了Sinton+WCT120+硅片少子寿命测试仪的用户又看了
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产品性能:
少子寿命测试仪性能参数:
测量原理: QSSPC(准稳态光电导);
少子寿命测量范围: 100 ns-10 ms;
测试模式:QSSPC,瞬态,寿命归一化分析;
电阻率测量范围: 3–600 (undoped) Ohms/sq.;
注入范围:1013-1016cm-3;
感测器范围: 直径40-mm;
测量样品规格 标准直径: 40–210 mm (或更小尺寸);
硅片厚度范围: 10–2000 μm;
外界环境温度: 20°C–25°C;
功率要求: 测试仪: 40W, 电脑控制器:200W ,光源:60W;
通用电源电压: 100–240 VAC 50/60 Hz;
主要特点:
适应低电阻率样片的测试需要,*小样品电阻率可达0.1ohmcm
全自动操作及数据处理
对太阳能级硅片,测试前一般不需钝化处理
能够测试单晶或多晶硅棒、片或硅锭
可以选择测试样品上任意位置
能提供**的表面化学钝化处理方法
对各道工序的样品均可进行质量监控:
硅棒、切片的出厂、进厂检查
扩散后的硅片
表面镀膜后的硅片以及成品电池
少子寿命测试仪
技术参数:
FAQ:
用途、光伏,硅片检测
包装、纸质包装
售后服务:一年保修,终身维护
用途、光伏测试
包装、纸质包装
售后服务
一年保修
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