中国粉体网讯 芯片的封测环节中,涉及到大量探针卡的使用,它们对芯片封装前的电学性能测量非常重要。然而探针卡受到基材的影响,在高温时会发生形变,从而影响测试结果,因此近硅热膨胀(CTE=3.4ppm/℃)的转接基板是解决高精度[更多]
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