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【IXRF】X射线管fX-SEM\X-Beam
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产品简介

IXRF成立于1993年,位于美国德克萨斯州,专注于精确地微区痕量元素分析产品,包括能谱仪(EDS)和X射线荧光(XRF)。

本产品是把高性能的微型X射线管(两种可选)安装在SEM上,利用能谱仪探测器来接受信号,从而将XRF整合进SEM+EDS系统中,结合了EDS和XRF两者的优势,使其在元素分析方面有自己的独特之处,XRF分析具有对样品无破坏、可直接分析不导电样品、灵敏度更高,能实现PPM量级分析等优点,这是其它能谱产品所不具有的。这种SEM+EDS+XRF的元素分析方案目前已经在美国得到广泛推广和应用。

★更高的峰背比,重叠峰少,灵敏度是EDS的10-1000倍,可以实现PPM级的痕量分析。

★两种型号的X射线管,很好的兼容性,可以与任意厂家的能谱探测器搭配。

两种X射线发生器参数:

X射线管 fX-SEMTM X-BeamTM
阳极类型 底窗穿透型 侧窗型
靶材料 Ag, Mo, & W Ag, Cu, Mo, Rh & W
加速电压 10-35kV 0-50kV
束流 0-100μA **1mA
阳极束斑大小<500μm 10, 40μm
准直器大小 200μm, 500μm, 1000μm(或其他) **的多毛细管聚焦光学系统
滤波片 根据需求可安装 根据需求可安装
冷却需求 传导冷却,不用风冷 功率>10瓦时,风冷;其余传导冷却
控制性/安全性 可控kV/μA、X射线开关、kV/μA显示;与SEM互锁、键控电源开关、与高压电源互锁、高压警示 可控kV/μA、X射线开关、kV/μA显示、内部互锁阀;键控电源开关、高压警示
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