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SLFA-20荧光X射线硫分析仪
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日本
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产品简介

仪器简介:

技术参数:

测定原理:荧光X射线分析法

测定范围:0~5%

重复精度:15ppm以内(1%的试样)

C/H比误差:±50ppm以内(1%的试样)

检测下限:20ppm以下(标准偏差的3倍)

标准曲线根数:5(可以自动选择、手动设定)

标准曲线次数:1次或者2次(可以自动选择、手动设定)

校正:任意的标准试样(校正点数2~20)

试样容器:专用液体试样容器

试样量:4~10mL

测定时间:10、30、100、300、或者600秒

环境温度:5~40℃

环境湿度:温度为5~31℃时,**相对湿度80%RH;31℃~40℃时直线减少到50%RH

光谱测定:带光谱测定功能能量轴/0~10KeV

强度值轴:自动设定

外部输出:RC-232C输出、测定?自动校正?光谱测定时输出

电源:AC-100V~240V±10%、50/60Hz

消耗电力:80VA

外形尺寸:250(W)×407(D)×138(H)㎜

质量: 8㎏

注: 1wt ppm=0.0001m/m%

主要特点:

*在测定中能进行试样的更换,能优先对紧急的试样进行测定。

*标准曲线*多能够存储5根,在测定时能够自动选择对应浓度范围的**标准曲线。

*重复精度15wt ppm、检测下限20wt ppm的高精度测定。

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