仪器简介：

日本AET微波(高频)介电常数测试仪， 利用微波技术结合高Q腔以及3D电磁场模拟技术，采用德国CST公司的3D电磁类比软件MW-StudioTM，测量材料的高频介电常数，此方法保证了介电常数测量结果的精确性。

AET公司开发了二种共振腔：空洞共振腔和开放式同轴共振腔用于测试环境腔，空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。开放式同轴共振腔适用于不同形状样品，包括薄膜样品的非破坏性测量，使用简易的逐步操作，内置的反馈振荡器电路可实现精确的量测。

技术参数：

频率范围：1G~18GHz

同轴共振腔：Epsilon：1~15，准确度：+/-1%，

tangent delta：0.1~0.001，准确度：+/-5%

空洞共振腔：Epsilon：1~30，准确度：+/-1%，

tangent delta：0.05~0.0001，准确度+/-5%

主要特点：

应用领域：

薄膜材料，半导体材料，电子材料（包括CCL和PCB），化学品，陶瓷材料，纳米材料，光电材料等。

不仅可测试固体，而且可测试液体，粉末等。

日本AET微波(高频)介电常数测试仪，介电常数分析，介电损耗测试，高频介电常数测量。