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马达台 | 自动精密马达台 **观察范围:100 mm (4英寸)全域 马达台移动范围:XY ± 50 mm、Z ≥21 mm *小步距:XY 2 μm、Z 0.04 μm |
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**样品尺寸 | 直径:100 mm(4英寸)、厚度:20 mm 样品重量:2 kg |
扫描范围 | 200 μm x 200 μm x 15 μm (XY:闭环控制 / Z:感应器监控) |
RMS噪音水平* | 0.04 nm 以下(高分辨率模式) |
复位精度* | XY: ≤15 nm(3σ、计量10 μm的标准间距) / Z: ≤1 nm (3σ、计量100 nm 的标准深度) |
XY直角度 | ±0.5° |
BOW* | 2 nm/50 μm 以下 |
检测方式 | 激光检测(低干涉光学系统) |
光学显微镜 | 放大倍率:x1 ~ x7 视野范围:910 μm x 650 μm ~ 130 μm x 90 μm 显示倍率:x465 ~ x3,255(27英寸显示器) |
减震台 | 台式主动减震台 500 mm(W) x 600 mm (D) x 84 mm (H)、约28 kg |
防音罩 | 750 mm(W) x 877 mm (D) x 1400 mm(H)、 约 237 kg |
大小?重量 | 400 mm(W) x 526 mm(D) x 550 mm(H)、约 90 kg |
* 参数与设备配置及放置环境相关。
OS | Windows7 |
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RealTune®II | 自动调节悬臂振幅、接触力、扫描速率以及信号反馈 |
操作画面 | 操作导航功能、多窗口显示功能(测试/分析)、3D图像叠加功能、扫描范围/测量履历显示功能、数据批处理分析功能、探针评估功能 |
X, Y, Z扫描驱动电压 | 0~150 V |
时时测试(像素点) | 4画面(**2,048 x 2,048) 2画面(**4,096 x 4,096) |
长方形扫描 | 2:1、4:1、8:1、16:1、32:1、64:1、128:1、256:1、512:1、1,024:1 |
分析软件 | 3D显示功能、粗糙度分析、截面分析、平均截面分析 |
自动控制功能 | 自动更换悬臂、自动激光对中 |
大小?重量 | 340 mm(W) x 503 mm(D) x 550 mm(H)、约 34 kg |
电源 | AC100 ~ 240 V ±10% 交流 |
测试模式 | 标配:AFM、DFM、PM(相位)、FFM 选配:SIS形貌、SIS物理特性、LM-FFM、VE-AFM、Adhesion、Current、Pico-Current、SSRM、PRM、KFM、EFM(AC)、EFM(DC)、MFM |
* WINDOWS 是、美国 Microsoft Corporation 在美国及美国以外国家注册商标。
* RealTune是日立高新科学公司在日本、美国以及欧洲的注册商标。
可适用的日立SEM型号 | SU8240、SU8230(H36 mm型)、SU8220(H29 mm型) |
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样品台大小 | 41 mm(W) x 28 mm(D) x 16 mm (H) |
**样品尺寸 | Φ20 mm x 7 mm |
对中精度 | ±10 μm (AFM对中精度) |
1. 自动化功能
高度集成自动化功能追求高效率检测
降低检测中的人为操作误差
4英寸自动马达台
自动更换悬臂功能
2. 可靠性
排除机械原因造成的误差
大范围水平扫描
采用管型扫描器的原子力显微镜,针对扫描器圆弧运动所产生的曲面,通常通过软件校正方式获得平面数据。但是,用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响,图片上经常发生扭曲效果。
AFM5500M搭载了**研发的水平扫描器,可实现不受圆弧运动影响的准确测试。
Sample :Amorphous silicon thin film on a silicon substrate
高精角度测量
普通的原子力显微镜所采用的扫描器,在竖直伸缩的时候,会发生弯曲(crosstalk)。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。
AFM5500M中搭载的全新扫描器,在竖直方向上不会发生弯曲(crosstalk) ,可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。
Sample : Textured-structure solar battery(having symmetrical structure due to its crystal orientation.)
* 使用AFM5100N(开环控制)时
3. 融合性
亲密融合其他检测分析方式
通过SEM-AFM的共享坐标样品台,可实现在同一视野快速的观察?分析样品的表面形貌,结构,成分,物理特性等。
SEM-AFM在同一视野观察实例(样品:石墨烯/SiO2)
The ovrlay images createed by using AZblend Ver.2.1, ASTRON Inc.
上图是AFM5500M拍摄的形状像(AFM像)和电位像(KFM像)分别和SEM图像叠加的应用数据。
通过分析AFM图像可以判断,SEM对比度表征石墨烯层的厚薄。
石墨烯层数不同导致表面电位(功函数)的反差。
SEM图像对比度不同,可以通过SPM的高精度3D形貌测量和物理特性分析找到其原因。
今后计划与其他显微镜以及分析仪器的联用。
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