误差率：
-分辨率：
优于100eV@20keV重现性：
-仪器原理：
其他分散方式：
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透射弯晶谱仪，利用劳厄弯晶将不同能量的X射线衍射到记录面上的不同位置，同时利用X射线成像板进行探测。该谱仪具有测谱能量范围宽、光谱分辨⾼等特征，特别适用于激光与固体靶相互作用产生的特征能谱诊断。
透射弯晶谱仪，利用劳厄弯晶将不同能量的X射线衍射到记录面上的不同位置，同时利用X射线成像板进行探测。该谱仪具有测谱能量范围宽、光谱分辨⾼等特征，特别适用于激光与固体靶相互作用产生的特征能谱诊断。产品特点/ CHARACTERISTIC
● ⾃主弯晶器件
● ⾼能谱分辨
● 宽能谱范围
● 可切换式探测模组
● 全谱直读
● 可切换式激光准直系统
● 光学系统结构: 透射弯晶系统
● 分光器件： α-Quartz<10-11>
● 能量分辨率： 优于100eV@20keV
● 探测器类型： 可切换式IP板
● 激光器切换重复精度： ±10μm
| 光谱仪型号 | 特点 | 能量范围 | 分光器件 | 分辨率 |
| xSpeC-Laue-1 | 常规款 | 10-100keV | a-Quartz<10-11> | 优于100eV@20kev |
| xSpeC-Laue-2 | 高分辨 | 20-120keV | a-Quartz<10-11> | 优于50eV@20keV |
| xSpeC-Laue-3 | 紧凑型 | 20-80keV | a-Quartz<10-11> | 优于100eV@20keV |
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