分散方式：
-测量时间：
-测量范围：
-误差率：
-分辨率：
3eV@Cu Kα1, 8.04keV重现性：
-仪器原理：
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球面弯晶谱仪，使用球面弯晶作为衍射分光元件，可以实现⼀维分光，⼀维聚焦成像，广泛应用于软X射线波段 (0.5- 15keV) 的光谱探测，可同时实现很高的亮度和高能谱分辨。
● ⾃主弯晶器件
● ⾼分辨率
● ⾼效率
● ⾼亮度
● ⾼真空兼容
● ⼀体化结构
● 兼容CCD、IP板探测
● 具备激光准直系统
● 探测⾯⻓度：27.6mm
● 兼容真空度：5.0×10-3 Pa
● 弯晶半径：200mm
● 晶体⻓度：60 mm
● 光谱分辨率：3eV@Cu Kα1, 8.04keV
| 光谱仪型号 | 能量范围 | 分光器件 | 分辨率 |
| XSpeC-Sp-1 | 1.4-1.6keV | PET晶体 | 3-10ev |
| xSpeC-SP-2 | 6.3-7.2keV | Si531晶体 | 3-10eV |
| xSpeC-sp-3 | 7.9-9keV | Ge620品体 | 3-10ev |
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