显微分光膜厚仪“OPTM”OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚、折射率n、消光系数k、绝对反射率的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。适用于各种可透光膜层的测试，并有独家专利可针对透明基板去除背面反射，从而达到“真实反射率、膜厚”测试的目的。此外，软件操作简单、使用方便且简化了复杂的...全文>>

Zeta电位・粒径・分子量测量系统ELSZneoELSZneo是ELSZseries的最高级机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（ZetaPotential，ζ-电位）和粒径测定之外，还能进行分子量测定的装置。作为新的功能，为了提高粒度分布的分离能力，采用了多角度测定。全新的zeta电位...全文>>

大塚电子利用光技术，开发出各种分析测量装置，给客户提供尖端测量技术支持。以测量技术、应用示例等重点介绍为主，定期举办Webinar(网络研讨会)。 本研讨会免费参加 通过以下Forms链接，提交参会...全文>>

助力双碳目标达成，第十五届国际电池展CIBF2023于2023年5月16日至5月18日在深圳国际会展中心举办。本次盛会参与人数众多，大塚电子携最新款纳米粒度仪产品ELSZneo首次亮相，与行业内新老朋友广泛交流，收获颇丰。期待下次再相遇。Zeta电位·粒径·分子量测量系统多检体纳米粒径测量系统显微分...全文>>

RETS-100nx相位差测量仪是OLED圆偏光片、叠层补偿膜、IPS液晶用带补偿偏光片等各种薄膜的光学延迟量测量系统。实现非破坏、叠层无需分离的原位测量。RETS-100nx可以高速、高精度测量60,000nm的极高相位差(延迟量)。简洁、人性化的测量软件，极大地缩短测量与处理时间。此外，轴角度补...全文>>

1.开头近年来，在平板显示器、包装用薄膜、光学薄膜等领域出现了各种各样的产品，特别是在这些产品中，光学特性成为最重要的特性之一。我们提供用于产品质量控制的分光测量系统，本文介绍这些系统。2.什么是分光(1) 光特性光具有粒子和波的特性。当光以波表示时，波的波峰到波峰或波谷到波谷的距离称为波长（图1）...全文>>

MCPD series 薄膜在线测量设备是光学式测量系统，可以以非接触和非破坏性的方式测量薄膜厚度、透过率、颜色等。可测量的膜厚范围为 65 nm 到 92 μm。（以折射率n=1.5换算）采用分光干涉法测量原理，支持多层膜厚测量，同时实现高重复性精度。采用独创的算法，可以高速实时监控，非常适合于薄...全文>>

ELSZ-PT是与ELSZ-2000 series、ELSZneo配合使用的pH滴定仪，可自动测量pH或添加剂浓度对粒径 · Zeta电位的影响，并可以与平板样品池连接使用。等电点评价为自动测量，可缩短作业时间。pH范围　pH1～13测量模式　滴定模式・添加剂模式・循环模式循环流速　约10～40mL...全文>>

1.开头近年来，在平板显示器、包装用薄膜、光学薄膜等领域出现了各种各样的产品，特别是在这些产品中，光学特性成为最重要的特性之一。我们提供用于产品质量控制的分光测量系统，本文介绍这些系统。2.什么是分光(1) 光特性光具有粒子和波的特性。当光以波表示时，波的波峰到波峰或波谷到波谷的距离称为波长（图1）...全文>>