NanoEye

每一纳米均纳入计算

量程与分辨率的新的标杆

对于传统的热膨胀仪，测试量程与分辨率这两个参数很难两全：高分辨率只能在很小的量程中实现；如果要得到较大量程，只能牺牲一定的分辨率。

新型自反馈光电位移测量系统 NanoEye 克服了这一技术上的矛盾，能够同时提供高分辨率、线性度与无以匹敌的宽广量程。

高灵活性与测样效率

仪器为双炉体结构，可同时安装两个不同的炉体，覆盖从180℃到2000℃的宽广的温度范围。另一配置方案是配备两个相同的炉体交替使用，再结合双杆样品支架、在双样品模式下进行测试，可以大大地缩短测样周期，提高仪器使用效率。

Expedis Select / Supreme 提供了众多的配置选择：单炉体 / 双炉体，手动 / 马达驱动的炉体操作，单 / 双样品支架，管状 / 杆状样品支架，等等等等。丰富的配置是为了适应各类应用场合。

自动长度测试与 MultiTouch

传统的热膨胀仪通常使用卡尺进行样品原始长度的测量，这可能加大测量结果的不确定性，特别对于柔软的样品。DIL 402 Expedis 可以在测试开始之前，在与测试本身等同的条件（顶杆接触位置、接触力）下自动测量样品的初始长度。

对于可靠的热膨胀测量，样品在样品支架内具有稳定的置放位置相当关键。DIL 402 Expedis 的 MultiTouch 功能使用独特的尾式顶样操作，自动将样品的置放位置调至合适。

DIL 402 Expedis 的热电偶位置可以灵活调整，以适应不同的样品长度。通过导向杆，可将热电偶调整至与样品长短相匹配的合适的位置，无需弯曲热电偶。

支持 3 路外接气体；可连接到逸出气体分析

如果使用的是三路质量流量控制器（MFC，选件），气体路径在仪器内部是分开的：保护气先经过测量单元，然后进入样品室，而吹扫气（两路）则直接进入样品室，保护气和吹扫气都通过炉体的出气口排出。

DIL 402 Expedis 仪器炉体为真空密闭设计，配备的 SiC 炉体非常适合通过毛细管与 QMS 或者 FTIR 进行联用，在测试过程中对逸出的杂质、添加剂、有机粘合剂及分解产物进行深入研究分析。

宽广的温度范围

我们提供两种不同的石墨炉体，温度分别为 2400°C 与 2800°C，提供了合适的配置以测量金属、合金、陶瓷、复合材料等的热膨胀，适用于如航空航天、新能源、石油/天然气、或其他研究领域。

通过适配器，可将石墨炉体替换成标准炉体，例如 SiC，SiO2，Cu 或不锈钢。也可以反过来配置：配备了标准炉体的 DIL 402 Expedis Supreme HT 的测量单元在后续也可改装使用高温炉体。

高温计，可在**温度下进行检测

由于 W-Rh 热电偶在 2000°C 以上可能跟石墨反应，DIL 402 Expedis Supreme HT 的样品温度是使用高性能的高温计、以光学方式进行检测的，可从室温一直检测到高温度。

精心设计系统

仪器拥有精心设计系统，可以对流经测量系统的冷却水与吹扫气流进行实时监控。

可变的气氛

DIL 402 Expedis Supreme HT 的炉体与样品室之间以保护套管（玻璃碳或氧化铝材质）进行隔离，因此可以对样品、以及加热元件使用不同的气氛。在使用氧化铝保护套管（高温度：1680°C）的情况下，甚至可以为样品使用空气气氛。

仪器可以配备 AutoVac 系统，对样品室进行抽真空与充填，再加上内置的对高温计窗口的吹扫功能，可以在氧化性与惰性氛围间进行直接切换。