用于刮擦敏感、抛光及细小部件的 Portable Rockwell 硬度检测仪。它通过微米级的细小穿透能力及**的灵敏度。坚固的触摸屏带有增强的软件应用和分析功能。

专用于细小部件

尤其适合对刮擦敏感且抛光的部件或细小部件、剖面和管道。可靠硬度读数所要求的zui低厚度是十倍压入深度。对于质量，没有zui低要求。

适用于各种样品几何体

探头可以利用独特的测量夹和支撑脚对各种几何体进行检测。

硬度单位众多

以 HRC 和 HV 为单位的测量可自动转换为 HB、HRA、HRB 以及更多符合 ASTM E140 和 ISO 18265 标准的通用单位。

适用于任何环境

Equotip 550 Portable Rockwell 可用于现场、工厂和实验室环境，几乎无任何限制。

Rockwell 测量原理

Equotip Portable Rockwell 的测量原理沿用传统的洛氏硬度静态检测法。使用 Equotip Portable Rockwell 探头测量期间，使用准确的控制力将金刚石压头压入待测件中。在施加负载并释放的同时，连续测量金刚石压头的压入深度。通过记录施加两个限定负载时的压入深度 d1 和 d2 来计算差异：Δ = d2 – d1。这通常称为塑性变形。

圆形标准脚（磁性）

适用于扁平部件和边缘距离大于 10mm 的检测位置。

三脚架的脚

专为要求精确定位的检测件（焊接、受热区域）而设计。

特殊脚 RZ 18-70 和 70-∞

专为弯曲的测试件（例如圆柱形部件、管子、导管）而设计。

优势：

• 与 Leeb 和 UCI 相结合

• 与固定式 Rockwell 硬度检测仪同样可靠、准确和标准化，但比之更快

• 内置强大的报告功能，随时准备好可用的数据资料