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二次离子/溅射中性粒子质谱仪
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MAXIM 二次离子溅射中性粒子质谱仪可分析二次阴、阳离子动态和中性粒子,所具备的的30°接受角可形成样品粒子平面,应用于SIMSSNMS的光学采样。

·光栅控制,增强深度分析能力·所有能量范围内,离子行程的*小扰动,及恒定离子传输·灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器

·质量数范围: 300amu500amu1000amu

·检测器:离子计数探测器、正负离子探测器、107 cps

·质量过滤器: 3F四级杆

·杆直径: 9mm

·**加热: 250

·离子源:电子轰击,可用于SNMSRGA的单根灯丝

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