仪器简介：

专门针对RoHS/ELV/玩具/包装/首饰等中有害元素及无卤化中卤素的测量

能同时测量Cl/Cr/As/Se/Br/Cd/Sb/Ba/Hg/Pb等元素

DM2300型X荧光分析仪（或称X荧光光谱仪）(英文名为DM2300 EDXRF Analyzer)是由上海爱斯特电子有限公司集数十年X荧光分析仪的研究经验，在公司原有的DM系列X荧光钙铁分析仪、测硫仪、铝硅分析仪、多元素分析仪等的基础上研制推出的一种达到国际**的分析仪器。仪器采用了能量色散X射线荧光（Energy Disperse X Ray Fluorescence）（EDXRF）分析技术，能分析从铝(原子序数13)到铀(原子序数92)的所有元素，对大多数元素分析的含量可低至1ppm高至100%，还能进行镀层厚度测量。具有分析速度快、精度高、人为误差小、操作简便、只需一次性投资、无污染等特点，故广泛应用于电子电气、建材、冶金、石油、化工、地质、矿山等各行各业。

对于RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素的测量，目前有多种方法，但绝大部分的测量方法都非常烦琐，特别是制样那更是复杂，且时间很长，又污染环境。而X荧光分析法虽然准确度较差，但它分析速度快、操作简单、无污染、制样方便或根本无需制样，能对绝大部分产品作出正确判定，而少量不能判定的产品再用其他方法，从而达到先筛选的目的，使测量方便了许多。所以X荧光分析法作为RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素测量的筛选法，得到全世界所有国家的确认。如我国国家质量监督检验检疫总局*近颁布了六个有关RoHS的检测方法标准，其**个标准就是：SN/T 2003.1-2005 《电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定 **部分：X射线荧光光谱定性筛选法》。对每一个需要测量RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素的单位，X荧光分析仪是不可缺少的。

DM2300型X荧光分析仪是本公司诸多X荧光分析仪中一款专门针对RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素的测量而设计开发的产品。它采用X光管激发，光管高压的电压和电流连续可调，具有多个滤色片和准直器并可自动转换，能使仪器达到**的激发效率、**的计数率和**的峰背比，从而有极高的精度和很小的检出限；它采用高分辨率的PIN半导体探测器，有效避免元素的相互干扰；它采用内标方法及具有自主知识产权的分谱技术，在无标准样品时亦可准确分析样品；它的样品室体积达480 mm×350 mm×125mm，能测量大件物品；它的设计对屏蔽防护极好，无三废公害；其测量准确度及检出限达到进口同类仪器的水平，而价格只是进口同类仪器的几分之一，特别适合我国国情。

凭借着本公司数十年X荧光分析仪的研究经验，凭借着本公司数十年在X荧光分析领域的良好口碑和重要地位，我们相信：DM2300型X荧光分析仪定将得到广大需要测量RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素的单位的认可，成为国外同类产品的替代品，为我国的检测事业和环境保护作出一定的贡献。

技术参数：

(1) 分析元素种类：Cl氯、铬Cr、砷As、硒Se、溴Br、镉Cd、锑Sb、钡Ba、汞Hg、铅Pb等。

(2) 有害元素及卤素含量分析范围： 5～3000ppm。

(3) 系统分析时间： 300s (典型值)。

(4) 分析精度： 理想状态下，测量**精度为2～3ppm；

一般状态下，测量相对误差为10%。

(5) 检出限： ≤2 ppm。

(6) X射线光管： 高压：≤50kV， 电流：≤1mA，均连续可调。

(7) 准直器： Ф1mm、Ф3mm、Ф5mm、Ф7mm共4个可自动切换。

(8) 系统能量分辩率： 对于MnK5.9keV的X射线，其半高宽：≤155 eV。

(9) 长时间稳定性： 开机1小时后，整机8小时稳定性：峰位和峰面积相对标准偏差均小于0.1%。

(10) 样品室体积： 长×宽×高：480 mm×350 mm×125mm。

(11) 使用条件： 环境湿度：5～30℃，相对湿度≤80%(25℃)，供电电源：220±20V，50Hz。

(12) 整机功耗： ≤150W。

(13) 尺寸与重量： 长×宽×高：503 mm×412 mm×478mm；重量：45Kg。

主要特点：

(1) 采用EDXRF物理分析方法，分析中不接触、不破坏样品，无需化学试剂等其他辅助材料。

(2) 多元素同时快速分析，一般几分钟给出Cl氯、铬Cr、砷As、硒Se、溴Br、镉Cd、锑Sb、钡Ba、汞Hg、铅Pb等元素的ppm含量结果。

(3) 采用X光管激发，光管高压的电压和电流可调，使仪器达到**的激发效率和**的计数率。。

(4) 具有4个滤色片和4个准直器，可任意自动转换组合，使仪器达到**的计数率和**的峰背比，从而有极高的精度和很小的检出限。

(5) 采用高分辨率的PIN半导体探测器，有效避免元素的相互干扰。

(6) 采用高分辨率的CCD摄像头，样品平台可移动，从而保证测量目标位置的准确。

(7) 由计算机进行显示、操作和数据处理，从而使操作简便，分析快速准确。

(8) 仪器集成化程度高，可靠性好，维修方便。环境适应能力强，长期稳定性好。

(9) 采用内标方法及具有自主知识产权的分谱技术，在无标准样品时亦可准确分析样品。

(10) 样品室体积大，能测量大件物品。

(11) 价格功能比低，适合我国国情。

(12) 设计对屏蔽防护极好，无三废公害，射线防护安全可靠。