仪器简介：

概述

DM 1230型X荧光铝硅分析仪是因水泥企业的要求而研制出的定量分析仪器，主要用于测量生料、熟料和水泥等物料中Al₂O₃、SiO₂的含量。目前国内大多数水泥企业已使用X荧光钙铁分析仪来测量生料等物料中CaO、Fe₂O₃的含量，但Al₂O₃、SiO₂含量的测量却很少是用X荧光分析仪的，而Al₂O₃、SiO₂含量的即时准确得到与CaO、Fe₂O₃对水泥生产的质量控制同样重要，只有同时即时准确得到这四个氧化物的含量才能真正实现生料的率值控制。所以本公司在前几年推出了真正能在水泥企业用上的DM2100型X荧光多元素分析仪，从而解决了这一问题，可几年来只有几百家用户，虽然也不算少，但相比于钙铁分析仪的几千家用户实在相差太远。水泥企业当然知道用X荧光分析仪的好处，关键还是价格问题，虽然DM2100型X荧光多元素分析仪的价格只是进口大型仪器的十几分之一，但十几万的售价还是令国内众多中小型水泥企业望而却步，他们多次提出是否有测量CaO、Fe₂O₃含量的仪器。为此本公司迅速研制出本款售价不到DM 2100一半的X荧光铝硅分析仪。

DM 1230型X荧光铝硅分析仪是本公司集数十年X荧光分析仪的研究经验，在公司原有的DM 系列钙铁分析仪、X荧光多元素分析仪等的基础上研制推出的**的一种不含放射性同位素的X荧光铝硅分析仪。与传统的铝硅分析方法不同，它采用物理分析方法，具有分析速度快、精度高、人为误差小、操作工劳动强度低、无污染等特点，且只需一次性投资，不需要任何化学试剂。当本仪器与本公司的钙铁分析仪一起使用时可用同一个样品，且由于按本仪器要求制备出的样品比按钙铁分析仪要求的好，所以还能提高CaO、Fe₂O₃的含量测量准确度，与DM 2100型X荧光多元素分析仪相比，虽然使用麻烦了一点，但价格不到一半，且由于结构简单可靠性更高了。

2014款DM 1230型X荧光铝硅分析仪除保持了原有DM系列X荧光分析仪所具有的外形美观、一体化、连续测量标准样法、数据储存能力大等优点外，还采用了大屏幕彩色触摸式液晶屏、没有数据总线与外部直接连接的CPU、贴片电路、**设计的采用**CPLD，FPGA等技术的多道脉冲幅度分析器及可变增益放大器等高新技术。是本公司实现自我超越的**成果。

技术参数：

主要技术指标

1. 分析范围： Al₂O₃、SiO₂分析范围均可调节，通过标定工作曲线的方法选定。

2. 分析范围宽度：Al₂O_3max—Al₂O_3min≤5%，SiO_{2 max}—SiO_{2 min}≤7%。

3. 线性误差： Al₂O₃：≤0.14%， SiO₂：≤0.14%。

4. 系统分析时间：100秒、200秒、300秒，可选。

5. 分析精度： S _Al2O3≤0.07%，S_SiO2≤0.07%。

6. 温度稳定性： 在5~+40℃范围内，**漂移：∣△Al₂O₃∣≤0.07%，∣△SiO₂∣≤0.07%。

7. 使用条件：环境温度：5~+40℃，相对湿度：≤85%(30℃)，供电电源：220V±20V，50Hz。

8. 整机功耗： ≤50W。

9. 尺寸及重量： 470mm×365mm×130mm，15kg。

主要特点：

与钙铁分析仪同时使用、真正实现生料配料的率值控制

以不到一半的投资实现X荧光多元素分析仪的功能

触摸式彩色高清屏、多道脉冲分析器等高新科技的大集成