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用于质量控制的灵活 3D 轮廓仪
您可以利用 MarSurf CP select 技术以多高于传统测头系统 100倍的速度进行测量。不仅节省了时间,也降低了成本。
花岗岩底座结构和采用一liu组件可测量具有高重复性,测量大型和沉重样品毫无问题。
MarSurf CP select和 MarSurf CL select 可完全自动化,并可利用工业接口集成到质量流程中。
作为生产流程的一部分,MarSurf CP select 3D 轮廓仪已在测量表面特征、线粗糙度、高度轮廓或层厚的过程中多次证明了自己。它采用模块化设计,并且可以连接到不同的传感器,因此可以适应许多不同的测量任务。可精调的手动 z 调整了操作的舒适度。或者,也可选择使用电动 z 轴。
由于装有多个兼容传感器,具有大灵活性
测量头内的传感器支架设计用于灵活支持各种传感器。传感器可快速轻松地插入支架,这使传感器的更换或交换非常简便。它提供了众多组合选项,以便使用合适的传感器技术。
MarSurf CP select
• 测量速度快
• 高度测量范围大
• 非接触式,不会造成破坏
• 彩色全景照相机
• 电动 z 轴
• 通过 z 拼接扩展测量范围
• 可以自动化
• 开发于德国的高度发达技术
MarSurf CP select 应用
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