技术参数

1、X射线发生器包括MM007HF，FR-X

2、光路单元，Pinhole、2Pinhole、3Pinhole系统可选

3、样品台包括，GI-SAXA附件、变温附件（-150度～400度）、多功能样品台、真空、拉升

4、半导体阵列2维探测器HyPix3000/6000

主要特点

**水平的小角度分辨率（Qmin至0.02 nm-1）；

NANOPIX高亮度、高功率X射线光源；

NANOPIX完全自动化并由智能软件控制，专业而简便；

NANOPIX支持多种条件下的复杂原位测试；

仪器介绍

Rigaku NANOPIX SAXS / WAXS测量系统是一种为纳米结构分析设计的新型X射线散射仪器。NANOPIX可以用于小角散射（SAXS）和广角散射（WAXS）测量，这使得可以实现从亚纳米到纳米级（0.1nm到100nm）的多尺度结构测量。使得实验室SAXS仪器实现了**水平的小角度分辨率（Qmin至0.02 nm-1）。SAXS / WAXS具有广泛的实验范围，NANOPIX可在各种温度或湿度条件下进行测量，同时进行DSC（差示扫描量热法）测量，以及与特殊附件或其他外部设备组合进行测量。测量环境的控制对于功能材料的结构-性能关系的研究是必不可少的。

*价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请向销售工程师咨询。我们讲竭尽全力为您制定完善的解决方案。