技术参数

1、X射线发生器功率为3KW

2、测角仪为水平测角仪

3、测角仪半径300mm

4、测角仪配程序式可变狭缝

5、*小步径0.0001度

6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学**）

7、高速探测器D/teX Ultra250（0维，1维模式）

8、半导体阵列2维探测器HyPix400(0维、1维、2维模式)

7、搭载从控制测量到分析结果的SmartLab Studio II软件包

8、视频观察系统

9、丰富的各种附件

主要特点

1、SmartLab家族中的**成员SmartLab SE。

2、使用SmartLab Studio II软件，可以一键式得到从选择条件、测量、到分析、结果报告的所有结果，不需要任何经验，就可以得到高质量的分析结果。

3、智能X射线衍射仪SmartLabSE系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 4、可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 5、可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品

主要的应用有： 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld定量分析 5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度 6.小角散射与纳米材料粒径分布 7. 微区样品的分析

仪器介绍

智能X射线衍射仪SmartLab SE系列，是当今世界**性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学**的CBO交叉光学系统、智能的测量分析SmartLab Studio II软件，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。