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面探微区X射线衍射仪
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日本
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仪器简介:

测量微区样品为主的多用途X射线衍射仪,使用大面积面探测器IP。

技术参数

1. X射线发生器功率可配3KW(X光管)及18KW(旋转阳极靶)

2. 使用大面积柱状二维面探IP,466mm x 256mm

范围为-60度 – +144度3. 一次收集2

4. 专用观察样品的CCD摄像头

5. 准直器包括800um、300um、100um、50um、30um、(选件10um)

6. 入射端前置单色器

7. 附件齐全

主要特点:

面探微区X射线衍射仪D/max RAPID可以测量无法成型的微小、微量、薄膜、液体等样品。

主要的应用有:

1. 粉末样品的物相定性

2. 薄膜样品的物相分析

3. 织构分析

4. 应力分析

5. 纤维分析

6. 高温测试

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