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ResMap四探针测试仪
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美国
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ResMap四探针测试仪

ResMap四探针电阻率测试仪

ResMap CDE273四探针太阳能硅片电阻率测试仪

ResMap CDE273四探针电阻率测试仪简介:

四探针太阳能硅片电阻率测试仪

光伏测试专用美国ResMap四点探针

ResMap CDE273四探针电阻率测试仪的特点如简述如下:

* 高速稳定及**自动决定范围量测与传送,THROUGHPUT高

* 数字方式及每点高达4000笔数据搜集,表现良好重复性及再现性

* Windows 操作接口及软件操作简单

* 新制程表现佳(铜制程低电阻率1.67mΩ-cm及Implant高电阻2KΩ/□以上,皆可达成高精确度及重复性)

* 体积小,占无尘室面积少

* 校正简单,且校正周期长

* 可配合客户需求,增强功能与适用性

* 300mm 机种可以装2~4个量测头,并且可以Recipe设定更换

CDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺,以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控,超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的。

ResMap CDE273四探针电阻率测试仪主要特点:

测量范围广,精度高,稳定性好,功能齐全强大,软件好用,维修成本低,服务好,配件齐全...

美国进口四探针电阻率测试仪(4PP)/方块电阻测试仪/太阳能光伏扩散薄层电阻测试仪(Four point probe(4PP))

设备名称: 四点探针电阻仪 (CDE ResMap)

主机厂牌、型号与附件: CDE ResMap

规格:

1. Pin material: Tungsten Carbide.

2. Pin compression force Typically 100 gm to 200 gm.

3. 样品尺寸: 2吋至6吋晶圆 (表面须为平整的导电薄膜,半导体材料)

设备用途: 导电薄膜的电阻值分布测量,半导体,光伏

________________________________________

特点:

1)针尖压力一致

2)适用于各种基底材料

3)友好的用户界面

4)快速测量

5)数据可存储

应用:

1)方块电阻

2)薄片电阻

3)掺杂浓度

4)金属层厚度

5)P/N类型

6)I/V测试

ResMap CDE273四探针电阻率测试仪测试性能指标:

探针材料 WC

探头寿命> 500W次

Resmap168,178,273区别:

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