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光学/探针显微镜
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日本
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仪器简介:

来自奥林巴斯的3D测量激光显微镜LEXT OLS4500是结合了传统光学显微镜、激光扫描显微镜(LSM)以及探针扫描显微镜(SPM)功能一体机,可以满足不同样品的观测需求。LEXT OLS4500可以轻松实现毫米到纳米的观察和测量,放大倍率由几十倍到高达百万倍。找到观测目标后,可以在光学显微镜模式、激光显微镜模式和探针显微镜模式之间自由切换而不用担心目标消失。可以使用探针显微镜快速而正确的完成观察。

特征及优势:

  • 结合光学显微镜、激光显微镜、探针显微镜为一体,拥有各自的特长,三种模式可自由转换,无需重新放置样品。
  • 探针显微镜拥有多种观察模式(基本模式:接触模式、动态模式、相位模式;选项模式:电流模式、表面电位模式、磁力模式)可以观察、测量样品表面的形状,还可以进行物性分析。
  • 涵盖了低倍观察到高倍观察的4种物镜,并在电动物镜转换器上装配了SPM单元,可以无缝切换倍率和观察方法,而且能进行纳米级观测。
  • 采用装在电动物镜转换器上的物镜型SPM侧头。同轴、共焦配置了物镜和微悬臂前端,所以切换SPM观察时不会丢失观察目标点。
  • 被精确调整过的电动物镜转换器、SPM侧头、微悬臂支架,只需把已调好的微悬臂位置的支架插入SPM侧头中,即可完成微悬臂的更换,提高了观察和测量的效率。
  • 具有向导功能,操作简单,可迅速获得测量结果。

应用实例:

1、高分子薄膜 2.铝合金阳极氧化膜 3、DVD表面

4、维式硬度计压痕 5、TiO2单结晶电路板 6、IC元件圆孔

彩色印刷 a1、光学显微镜 a2、SPM a3、SPM形态分析

乳酸菌 b1、LSM b2、SPM b3、SPM截面形状分析

墨粉粒子 c1、LSM c2、SPM c3、SPM截面形状分析

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