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大口径元件高透/反射率测量仪品牌
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| 大口径元件高透/反射率测量仪 | |
| 型号 | HTR-2000-LA |
| 测量光束波长 | 355nm、527nm、1053nm或定制波长 |
| 扫描口径 | ≤500mm x 500mm(L x W)，或客户定制 |
| 透射率及反射率测量误差 | ≤5x10-4 |
| 透射率及反射率**可测量值 | ≥99.9% |
| 系统稳定性 | <5x10-4 |
| 测量复现性 | <5x10-4 |
大口径元件高透/反射率测量仪(HTR-2000-LA)，主要应用于光学元件的透射率、反射率测量，能够对反射率高达99.99%或透射率高达99.99%的光学元件的透/反特性进行高精度测量。能够适用于不同尺寸，特别是大口径尺寸的光学元件，并根据元件尺寸信息自动规划检测路径，满足客户对感兴趣区域的透射/反射特性检测。
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