荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统

针对网印，烧结制程优化的**工具

针对扩散发射极方块电阻生产高效率电池片，提高良率**工具

1、通过CoreScan扫描Rs，可以得到整个电池片的串联电阻分布图。从而判断影响此因素的原因，如：烧结温度过高过低、磷硅玻璃是否去除干净，发射层是否平整均匀，电极是否有虚印、断线等等。

2、 通过ShuntScan扫描Rsh，可以得到整个电池片的并联电阻分布图。判断影响此项参数的原因，如：银铝浆对正表面的污染、刻蚀不足、过烧以及SiC层结是否有阶梯等问题。

3、 通过VocScan扫描Voc，可以得到开压分布图。判断影响此项参数的原因，如：BSF的均匀性、原材料的均匀性等。

4、 通过LBIC Scan，得到电流分布图。可以判断：原材料缺陷，也可以说明钝化或是镀膜效果。