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PHL相位差测量仪WPA-200-MT
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日本
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产品简介

主要简介:

镜片的双折射现象会造成镜片成像性能(MTF)下降,智能手机所使用的镜片需要高解析度,因此需要减少双折射的影响,了解镜片的双折射的大小,是镜片生产过程中不可缺少的,WPA-200-MT正符合这样的需求,并能高速完成各项测量。

主要特点:

  • 搭载自动判定软件,按下测量键,系统会根据之前设定好的双折射大小进行产品是否合格判定,并输出结果。

  • 客制化以满足各种判定条件

  • 能自动选择需判定的区域。

运用实例:
  • 利用与产品的前期研发,精确分析大量数据

  • 产线应用,简单、高效的良品判定

  • 产品质检 活用Data Log功能

主要参数:

项次

项目

具体参数

1

输出项目

相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa

2

测量波长

520nm543nm575nm

3

双折射测量范围

0-3500nm

4

测量*小分辨率

0.001nm

5

测量重复精度

<1nm(西格玛)

6

视野尺寸

34×40mm(标准)

7

选配镜头视野

6.3×7.5-17.5×21mm

8

选配功能

实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制,CD模式

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