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精度**的成像式光谱亮度色度计
整合了速度与精度
WP214整合了一个高精度的分光辐射计，具有先进的分析能力，是一个大视场的成像三色色度计系统。
系统具有高动态范围特性、冷却CCD成像仪具有0.5百万像素的分辨率和一个集成的光谱仪作为成像结果校正。 自动滤光轮包含四个三色过滤器和5个可选位置。
这两种技术的结合可确保设备的高精度和提高产能。在很多应用领域，WP214可以代替两个分立的仪器。考虑到有多种镜头可选，本仪器更适合实验室的应用。例如，接上CONOMETER 透镜，WP214可测出视角为+/-80°的光照度与色度。附带的Photometrica@ 软件提供了FPD's，LED或
者OLED发光应用分析的整套解决方案。强大的软件套件提供了一个高度可配置的用户界面与广泛的分析和自动化功能。 脚本工具直接嵌入在软件，不再需要为各种自动化生产应用程序作外部软件开发。
一个仪器时代的来临
相较于色度计，分光辐射计具有更低的误差因子，因为它误差根源可细分到小可验证的评价，包括：波长误差，带宽，杂散光，线性系统与动态范围。简而言之，如果那些规格达到**值，那么LEDs，OLEDs甚至激光光源的光谱分布测试将会很成功。WP214的分光辐射计具有
一流的参数规格：
光谱辐射图
使用WP214测试出的红、绿、蓝、白、黑OLED的光谱。对于蓝OLED，亮度只有15cd/m ，而峰值比设备自身噪音高五个数量级。
典型成像色度计用四个滤波器来近似CIE三色刺激函数的响应：两个滤波器用以逼近在X的响应，一个用于Y和另一个一个用于Z。相比于CIE模型，过滤器本身会存在局部相应误差。对于未知光源，校正色度计误差的**方法是测试未知光源的辐射谱并了解色度计的响应。获取光源的典型光谱是难以确定的，因为包括LED与钨丝灯，都会因为温度与电流电平影响到光谱功率分布。WP214克服这些障碍，通过校正每一个测试，精确定位出图像色度计与光谱辐射计对于每个样品的三原色坐标。
规格参数
| 成像仪规格 | ||||
| 测量能力 | 色度：(x，y，z)、 (u’，v’)、主波长（nm）、色纯度、色温； 光度：亮度、照度、发光强度； | |||
| 单位 | cd/m2， fL， lux， cd， %， [x，y，z]， [u’v’]，用户自定义 | |||
| 曝光时间 | 电子快门控制 | |||
| 测试速度 | <1s 只测亮度和光谱 <10s 亮度、色度、光谱 | |||
| A/D转换 | 16bit 单次曝光；24bit 电子快门曝光 | |||
| 传感器尺寸/类型 | 16mm 对角线，ICX814 | |||
| 像素尺寸(μm) | 3.7 x 3.7 | |||
| 图像分辨率（水平x 垂直） | 2704 X 3376 | |||
半导体制冷能力 | 温度调节+/- 0.1°C | |||
| 动态范围 | >100，000:1 | |||
| 亮度（<1：10 S:N） | 0.01->5，000 cd/m2 | |||
| 测试范围（cd/m2） | 0.01 至 90，000 | |||
| 重复率 | 亮度<0.1% | |||
| 准确度 | 4% | |||
| 线性度 | 0.5% | |||
| 偏振相关性 | 0.5% | |||
| 可选过滤器 | 5个安装位置可选微光，辐射度，昼夜节律，客户定制等过滤器 | |||
| 分光辐射仪规格 | ||||
| A/D转换 | 16bit， 24bit 电子快门曝光 | |||
| 斑点直径 | 47 pixels直径在成像平面 | |||
| 亮度（<1：10 S:N） | 1 to >12，000 cd/m2 | |||
| 色度精确性 | 0.002， [x，y] | |||
| 波长精确度 | 0.5 nm | |||
| 亮度重复性 | 0.3% | |||
| 带宽 | 2.4 nm | |||
| 产品尺寸（含镜头） | 11.3 x 11.3 x 5.1 cm | |||
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