美国Microvision 成立于1993年，是全球显示器测试系统的主要供应商，可以检测FPD CRT，PLASMA， HDTV， OLED， HUD， HDD投影机等，应用于R&D， QC及工业测试。Microvision System以技术先进的产品及完善的售后服务，赢得用户的尊敬。

系统功能说明：

Microvision显示器测量系统可选择两种取样探头SS410及SS420，使用一组抵用平台和控制电脑，经由专业控制软件，进行显示器光学特性的自动测量和分析。

RTM-3:SS400 显示响应时间测试仪

应用领域

- LCD电视和显示器

- PDP显示屏

- 3D眼镜

测量：

- 动态模糊和伪像

- MPRT

- 响应时间和闪光

- 灰阶转换时间

- 超量百分比

- 延时时间反应

- 消光系数（3D显示屏）

特征：

- 全钥匙系统-系统控制器包括在内

- 全自动

- 可定制化装置

- 独特的滤波技术，精度高

- 动态范围大（无需ND滤镜）

- 数据包括了文本文件，CSV文件，2D和3D图）

- BNC连接原数据（到示波器）

系统简介：

RTM模块是一款选配的测试模块，可集成到Microvision任何一款的SS400系列系统。RTM模块同时也可单独购买作为单独设备使用，包括了一台电脑，Microvision专属的软件和Win 7平台。

RTM传感器包括了各种焦距和孔径镜头系统融合到低噪音、快反应光电二极管。光电二极管输出是经过滤化，然后以不同的样品率输入到16位元 AD卡。

响应时间功能是专门设计于测量Rise(Ton)和Fall(Toff)时间的发光目标正如在ISO-13406-2 和VESA FPDM 2.0， 305-1章的标准。

同时还可以进行自动灰阶转换时间测量。响应时间模块可以自动测量出从0-255之间的灰阶阵列。

Microvison新一代RTM已经为时域测量加入了多个增强版功能，包括了更快的样品采集和提高了灵敏度。我们专属的滤镜算法是在测试行业中高精度的。我们加入了许多新颖和创新特征到响应时间比如自动大小调整达到高灵敏度，叠加输出（原数据和滤镜数据在同一个图允许了用户观察到滤波的效果），以及自动测量更加快速。

这是测量时域性能强大、灵活的测量设备。

RTM规格参数：

光学类型:Low Noise， Fast Response Photo Diode

样品率：50 kHz Max. (500kHz optional)

分辨率：16 bit

探测器响应：20kHz (filtered)

转换时间：Measures .05 ms to 4 s

镜头：25mm “C” mount， f1.6 to f22 adjustable

同步：Software and external options

操作系统：PC / Laptop included with Win 7

重复率：3%

输入和输出接口：USB ADC attached to MV Computer