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一体式集成OLED器件/显示器表征、紧凑、综合和用户友好操作。
M3000 OLED参数测试系统由成像光谱仪和OLED参数测试仪组成，其技术组合可分析光电特性，如I-V-L、C-V、可视角、色坐标、光谱、亮度......；该设备专为高精度测量而设计，适用于与OLED、钙钛矿LED、QLED、Micro和Mini LED的显示性能和表征相关的各种研究。
- I-V-L/寿命
- 电容/电压（C-V）
- 光谱/亮度/颜色
- 电流效率/功率效率/量子效率
- 可视角测量
- 温度依赖性
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