显示器件各种光学特性的自动测试

M7000自动I-V-L测试系统用于显示设备的多通道测试，具有普通的光学探测器，如光谱仪或色度计，通过三轴定位器自动改变其测量位置。测试项目涵盖了广泛的显示测试领域，不仅包括显示器件的基本特性，还包括其随时间的长期变化，包括寿命测量。根据功率驱动方式的不同，该系统分为三个子模块：单元器件和PMOLED面板的PMX、AMOLED面板的AMX和带有驱动芯片的OLED模块的MDX。

-适用于OLED (器件，Panel， 模组)

-多通道 I-V-L & 寿命测试

-亮度/色度/光谱...测试

-电流/功率/量子效率测试

-自动对位 & 自动聚焦控制

-可进行独立温度控制

-阻抗测试

-可视角测试

-影像残留测试