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陶瓷材料介电常数介质损耗测试仪
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产品简介

一、概述:

ZJD-C型 陶瓷材料介电常数介质损耗测试仪作为**一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前国内**的160MHz。

双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。

双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。

双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。

自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。

全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。

DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。

计算机自动修正技术和测试回路**化 —使测试回路 残余电感减至*低,彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。

ZJD-C 瓷材料介电常数介质损耗测试采用了多项**技术。

二、主要技术特性:

*1.信号源: DDS数字合成信号 100KHZ-160MHZ

*2.信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数

3.Q值测量范围:1~1023

4.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;

*5.电感测量范围:1nH~140mH 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能

*6.电容直接测量范围:1pF~25nF

7.主电容调节范围: 17~240pF

8.准确度 150pF以下±1pF;150pF以上±1%

9.信号源频率覆盖范围100kHz~160MHz

10.合格指示预置功能范围:5~1000

11.环境温度:0℃~+40℃;

12.消耗功率:约25W;电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

13. S916(数显)介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置:

数显式微杆,平板电容器:

极片尺寸: 38mm

极片间距可调范围:≥15mm

夹具插头间距:25mm±0.01mm

夹具损耗正切值≤4×10-4 (1MHz)

测微杆分辨率:0.001mm

测试极片:材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm

*液体杯:测量极片直径 Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm

14. 电感组LKI-1:

分别有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十个电感组成。

三、配置:

主机 一台

电感 九支

夹具 一套

液体杯 一套

随机文件一套

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