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美国SVT衬底温度速率测量仪(工艺监控仪) /AccuTemp
美国SVT衬底温度速率测量仪(工艺监控仪) /AccuTemp

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AccuTemp(In-Situ 4000)工艺监控仪可以闭环监控与控制多层薄膜生长。

用于MBEMOCVD以及CIGS等系统中。

AccuTemp提供实时、准确的工艺信息,包括衬底温度、薄膜厚度、生长速率。

该仪器放置在一个观察窗上。

采用双色红外高温测量仪测量温度,该测量仪对观察窗口的附着物不敏感,还可以校准误差。

另一部件辐射仪,用来补偿发射率的变化,纠正高温测量仪的温度测量值。

Bandgap模块可选,它可以监控很低的衬底温度,还可以进行高温测量仪的简单校准。两个独立的光学反射信号用于分析并实时提供厚度、生长速率及折射系数。

典型应用

AccuTemp典型应用于 GaNGaAsZnOCIGSSi ZnTeSiCMCT以及STO

AccuTemp 既可用于研究型设备也可用于生产型设备。

Bandgap模块可以使IS4K测量低于高温计范围的材料温度,例如在生长GaAsGaSbSi材料时可以使用。

特点

一个窗口就可以同时、实时测量温度和厚度

采用双波长用于穿过窗口涂层,进行透明度补偿

采用发射率补偿,提供真实温度

闭环控制

Bandgap模块用于低温测量和校准

高温仪温度范围

450oC - 1,300oC

Bandgap模块

室温 - 700oC

衬底材料

Si, GaAs, InP, 蓝宝石,STO,Gasb,MCT等

辐射仪波长

950,850nm

噪声等效温差

<0.5oC

反射仪波长

950,470nm

噪音等效厚度差

<1nm @ film>100nm

靶距离范围

>7mmΦ

测量斑点大小

1KW-5KW

观察窗

2.75''CF(4.5''CF如果带边)

尺寸

100×140×130mm

对正方法

视频监控器

计算机要求

Windows XP, 序列端口界面

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