μ-Kerr Effect Measurement System

磁光克尔效应系统

优势

1.基于微观局部磁性分析极向和纵向克尔效应(非同步量测)

2.适合敏感分析μm大小磁模式和磁性薄膜

规格

测量的方向

Magneto-Optical Kerr Effect(Polar and Longitudinal Kerr Effect)

主要功能

Kerr Loop Measurement

光源

Diode Laser

探测光斑

φ2-5μm

磁场

Max. ±10kOe (1T)

可选

In-Plane Electromagnet

μ-Kerr Effect Measurement and Magnetic Domain Observation System

克尔效应测量和磁畴观测系统

优势

1．微观测量克尔效应和磁畴观测

2.适合敏感分析μm大小磁模式和磁性薄膜

规格

测量的方向

Magneto-Optical Kerr Effect (Polar and Longitudinal Kerr Effect)

主要功能

Kerr Loop Measurement and Magnetic Domain Observation

光源

Diode Laser and Mercury Lamp

探测光斑

φ2-5μm

观察分辨率

1μm (Typ.) with x50 objective lens

磁场

Max. ±10kOe (1T)

可选

Cryostat and others

Polar Kerr Effect Measurement System

极向磁光克尔效应系统

规格

测量的方向

Magneto-Optical Kerr Effect (Polar Kerr Effect)

主要功能

Kerr Loop Measurement

光源

Diode Laser

探测光斑

φ1mm (Typ.)

磁场

Max. ±20kOe (2T)

Longitudinal Kerr Effect Measurement System

纵向磁光克尔效应设备

规格

测量的方向

Magneto-Optical Kerr Effect (Longitudinal Kerr Effect)

主要功能

Kerr Loop Measurement

光源

Diode Laser

探测光斑

φ1mm (Typ.)

磁场

Max. ±100 Oe (0.01T)

Faraday Effect Measurement System

法拉第磁光克尔效应设备

规格

测量的方向

Faraday Effect

主要功能

Faraday Measurement

光源

Diode Laser

探测光斑

φ2mm (Typ.)

法拉第角范围:

45 degree

磁场

Max. ±10kOe (1T)

Perpendicular Magnetic Anisotropy Analysis

垂直磁各向异性分析

优势

1.磁光克尔效应与机动旋转电磁铁磁场应用于角度依赖性分析

规格

测量的方向

Magneto-Optical Kerr Effect

主要功能

Kerr Loop Measurement

光源

Diode Laser

探测光斑

φ1mm (Typ.)

磁场

Max. ±25kOe (2.5T)

磁场旋转范围

-10-100 degree