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亚能带缺陷能谱仪
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上海
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产品简介

The model SBA-25 Subgap 亚能带缺陷光吸收测量系统, 由卤素灯、单色仪和斩波器组成, 比带隙单色光有更小的能量,能够在备用的当前光具内照射. 光的量是由一个锁定放大器放大后的监测和控制,以保持恒定的光强度在每个波长的滤光片。 放置在该系统的光照强度检测可以实时控制光的强度。然后,光照强度和样品测量的光强度变化之间的变化也可以保持*小,优良的可重复的数据可以得到。

照射面积 6×6mm

辐照强度精度 ±5%

平面辐照均匀性 within ±10%

光量稳定 within ±5%

辐照强度范围 100nW/cm2~5mW/cm2

波长纯度 approx. 24nm ( Slit width of monochoromator: 4mm)

光学系统 Asymmetrical Czerny-Turner mount Aperture ration F=4.3 Reciprocal linear dispersion 6nm/mm(600 lines/ mm ) wavelength accuracy±0.2nm

辐照光 Direct current and Intermittent light, manual control switching

斩波器 0.1~100Hz

照射方向 Downward

强度监测 Measuring by a lock in amp

样品电流测量 by connecting a current amp to the sample, its output voltage is to be measured by a lock in amp

*小检测电流 100fA(1e-13A)

吸收系数 6 digit number

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