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JEOL JMS-S3000雷射辅助基质离子-螺旋飞行质谱仪
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日本
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产品简介
  • 为增强解析度让飞行距离变的更长Spiral TOF 使用螺旋式设计在较小的空间下可以达到*长飞行距离从而可以分析到更高解析度分子量准确度也更高

    TOF-TOF(选配)-也可以加强解析度及准确度选择二次串联螺旋飞行质谱TOF-TOF 做结构分析双重质谱MS/MS

    Linear TOF(选配)-可以做更高分子量如蛋白质

    螺旋飞行质谱仪使用特殊离子化方式MALDI 基质辅助雷射脱附法(Matrix Assisted Laser Desorption Ionization

    Spiral TOF-TOF特点

    1.高分子量, 高解度, 高准确度

    2.高精准选择离子单一同位素分析

    ?长距离飞行解析度非常高

    ?由离子源到离子闸门距离15~17公尺

    3.消除PSD衍生离子

    4.高能量碰撞诱导解离-20 keV 实验室瞬间碰撞能量HE-CID分离高活化能键结, 自然单一碰撞重复性高

    5. 一次观察所有离子

    6. 可以测到 m/z几乎大分子物质都可用Spiral Mass

    500,000,

    ?Linear TOF

    离子源与检测器之间有 1.2 m是自由空间

    适合高分子量物质如蛋白质或高分子

    所有离子从加速後都被侦测

    可以测到m/z 500,000

    几乎大分子物质都可用Spiral Mass

解析度

60,000 (ACTH fragment 1-17?M+H?+: m/z 2093.1)

质量解析度

(internal reference)

1 ppm (average error)

质量准确度

(external reference)

10 ppm (average error)

灵敏度

500 amol, S/N > 50

with standard stainless steel plate

雷射

Wavelength 349 nm (maximum 250 Hz)

应用领域

蛋白质

高分子合成

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