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日本日立FT110XRF萤光镀层厚度测量仪
日本日立FT110XRF萤光镀层厚度测量仪的图片
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日本
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产品简介

特点:

·即放即测:无需人工对焦造成误差,测量结果更可靠;

·测试速度快:3秒自动对焦,10秒钟完成50nm级极薄镀层的测量;

·无标样测量:与以往的技术相比,薄膜FP软件得到进一步扩充,即使没有标准品也能精确测量;

·多镀层测量:*多能够进行5层的多镀层样品测量;

·广域图像观察:能将样品图像放大5到7倍,并对测量部位精确定位;

·低成本:较以往机型价格降低了20%。

FT110可降低成本如下:˙节省材料费,

全球资源紧缺已是大势所趋,企业的材料费也是节节攀高;尤其是表面处理工作中所用到的贵金属更是一涨再涨,比如众如周知的黄金Au已从十几年前的百余元每克上涨到三百多元,以印刷电路板厂每年产量几十万套为例,根据业界经验如果能更好控制镀层厚度,企业每年可节约上千万的费用。

˙减少工期(作业人工)

通过X射线仪来评价,管理产品可以轻松知晓产品能发挥**功能时的*小镀层厚度,从而避免重复电镀造成的电费和人工费的流失。

˙减少修理,修补等产生的制作费用

通过X射线仪可避免镀层不均或太薄造成的质量问题,以及后续的返工造成的费用。

基本规格

测量元素

原子序号22Ti~83(Bi)

镀层测试软件

薄膜FP

X射线管

管电压:50KV 管电流:1mA

薄膜检量线法

检测器

比例计数管

测量功能

自动测量、中心搜索

准直器

0.1mmΦ, 0.2mmΦ

定性功能

KL标记线、对比显示

影像窗口

CCD摄像机(带倍率放大功能)

安全功能

样品门安全防护机构

X-ray Station

计算机+19英寸液晶显示器

使用电源

100~240V/15A

样品台移动量

250X×200Ymm

样品**高度

150mm

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