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日本日立SEA1000AIIXRF仪器萤光分析仪
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日本
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产品简介

产品特色:

1.各大廠認可針對塑料及電子元件中有害重金屬檢測之X射線螢光分析儀

2.採用高靈敏度矽半導體偵測,無須液態氮

3.配備CCD監視器

4.具備形狀、厚度、材質補正弁?Seiko專利)

5.超低檢測下限的(Cd:1.9ppm;Pb:0.9ppm)

应用领域

(1)滿足歐盟RoHS指令,以及各國針對電子電機產品中有有害物質含量的快速檢測分析,例如Cd、Pb、Hg、Cr、Br等含量的快速分析。

(2)針對目前IEC指令中之無鹵素含量要求標準,利用XRF可建立快速、非破壞的檢測方法,滿足廠商簡易的需求。

基本规格

測定元素原子編號13 (Al) ~ 92 (U)
樣品形態固體,粉末,液體
X光管小型空冷式X射線管球(Rh靶)
管電壓:15kV, 50kV 管電流:1mA
檢測器Si半導體檢測器(無需液態氮)
準直器1mm, 5mm(自動切換)
樣品觀察彩色CCD攝像頭
濾波器4種模式自動切換
樣品室370(W)*320(D)*155(H)mm
X-ray Station筆記電腦或桌上型電腦
(OS; MS-windows XP)
印表機(選購)噴墨印表機
定性分析弁?/div>能譜測定
自動辨別,圖譜比對
定量分析弁?/div>塊體FP法,標準曲線法
KLM標示表示,差異表示
統計處理弁?/div>MS-EXCEL
報告製作MS-WORD
設置尺寸900(W)*700(D)*460(H)mm(不含印表機)
重量90kg
使用電源AC100~ 120V, 200 ~ 240V±10%, 10A
選購有害物質判定軟體
能譜匹配軟體(材料判定)
薄膜FP軟體
薄膜標準曲線軟體
外部驅動X-Y移動臺
自動進樣器
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