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半导体测试探针台KUP007,EMP100C,EMP100B,EMP50S
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台湾
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产品简介

半导体测试探针台:KUP007,EMP100C,EMP100B,EMP50S

Model::KUP007

特点:

* x y z 15 mm-19mm-19mm

*分辨率:5微米

*线性运动

磁铁底座/off-control(选项)

探索倾向

提示夹螺丝

同轴刀头固定螺钉

同轴端座管

三轴端固定螺钉

三轴端托管

(低泄漏电流<100fA)

射频臂(W/E或N/S)

8寸雷射修补变温(负)探针量测系统

高温高湿真空气体照光Bending 可靠度量系统:

低成本探针台:

4英寸探针台:

EMP100C EMP100B

C 型探针台 Model:EMP50S

测量解决方案系统

EMP100C 探针台

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