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产品简介
KSI V-duo 双探头超声波扫描显微镜系统
双探头超声波扫描显微镜系统，同时使用2只换能器
- 扫描速度：2000 mm/s
- 与其它品牌相比扫描效率高30%
- 扫描范围：700mm×600mm
- *小扫描范围：200μm×200μm
- 带宽：550MHz
- 放大倍数：625倍
- 新型换能器
- 推荐产品
- 供应产品
- 产品分类
- 半导体测试探针台KUP007，EMP100C，EMP100B，EMP50S
- 美国D&S发射率测量仪AE1/RD1
- N-TEC全自动晶圆贴片机BW 228-5FA
- URE-2000A型紫外单面光刻机
- PICOSUN P-200S Pro ALD生产型原子层沉积机
- 日本JEOL离子切片仪EM-09100IS
- 日本JEOL能谱仪JED-2300T
- P-1000 Pro ALD芬兰PICOSUN生产型原子层沉积机
- 日本JEOL截面样品制备装置IB-19520CCP
- 日本JEOL场发射冷冻电子显微镜JEM-Z200FSC
- 德Iplas微波等离子化学气相沉积MPCVD
- 德国Klocke Nanotech纳米级三维测量仪3D Nanofinger
- 德国Sentech光伏测量仪器RT Inline
- URE-2000/A8紫外单面光刻机
- 芬兰PICOSUN标准型原子层沉积机R-200
- 日本JEOL粉末装置TP-99010FDR