认 证:工商信息已核实
访问量:292951
德Optosol-K3 太阳能吸收率发射率检测仪:
K3型发射率检测仪由一个被加热到70℃的发光体(作为热辐射源)和三个对波长在8-14μm范围的光线敏感的探测器组成。 来自发光体的辐射均匀分布在用作漫射辐射源的积分球内。检测器以与样品表面法线成12°的角度安装。被测量的是由样品反射回来的辐射。在上述波长范围内,用两个已知发射值的样品来进行检测信号的校准,这两个样品其中一个发射率高,如玻璃;另一个样品的发射率低或者其发射率与待测样品相接近。
Manual absorber centrol K3-V9
两种类型的测量误差只能通过小心使用仪器来避免。
首先,球体通量取决于样品的反射率。这种效应在一定程度上纠正了数值。 但是推荐使其次,样品可以在测量期间可以被次级辐射加热。次级辐射限制了测量精度。当测量高发射率样品或参考物时,效果更为显着。
另外,建议将样品与积分球体接触的时间,只在进行必要测量的时间段。
使用吸收率检测仪器进行高精度检测的注意事项:
- 在运行吸收率检测仪期间应尽量避开交流调制的环境光线。
- 特别注意要关掉荧光灯光源。日光或其它直流人工光线不会对吸收率检测仪的工作造成影响。
- 在使用Alphameter检测仪和发射率检测仪进行检测时,应避开空气对流或暴露于热源下(包括直射的太阳光线!)。
- 在开始检测前1小时运行发射率检测仪。
- 在不使用吸收率检测仪时,应保持探头和校准用标准件的清洁
测量
首先,检测平面或圆柱体面样品时请确保使用正确的附件。请确保发射率检测仪有足够的加热时间(半小时以上)。
alphameter检测头可与检测孔可以向上和向下使用。 对于小件和参考测量的测量,建议使用向上的位置。 测量结束后,蓝色状态栏中的会显示“Ready”指示。
如果您正在测量各种非均质样品,请确保样品始终处于正确的位置,此时对于测量的建议,应该让样品的不同取向与积分球校准后进行。
在每个样品完成检测后,其检测结果会在窗口上进行显示并储存到IRAM.txt文件中。
建议首先输入样品名称和检测起始号。如果用户未设置检测起始号,检测编号将自动递增。检测结果文件记录以下数据:
。日期
。时间
。样品名称(如用户所输入的名称)
。检测的类别(吸收率、发射率或者两者都有)
。太阳能吸收率或发射率检测值
。每一波长范围内的检测值
所有的检测结果将储存到 iram.txt 文件中。不会有检测结果丢失的现象发生。为快速的找到检测数据,建议将检测数据储存在AlphaM.txt文件中或间隔一定周期(比如每周或每月)对iram.txt文件进行重新命名。或者直接复制这些数据到一个电子制表软件(例如 Excel),以获得更快的数据访问。如果您想打印出检测曲线,请按“Print”按钮。
建议间隔一定时期(如1小时)重新进行一次参考检测。目的是检测白色参考插头的稳定性。测得的值如在95%到97%之间,则视为稳定.
使用alphamter检测仪进行检测
在使用Alphameter检测仪进行检测前,必须先完成三个参考检测:一个是理想的黑色表面物的检测、一个是“灰色”表面物的检测以及一个白色表面物的检测.
为了获得上述三个参考检测值,**步(取下管状样品参考后,按下Dark ref 按钮(功能键F1)。之后出现一个信息对话窗口,提示您将参考品翻入暗室中(将黑色参考插头(随机附带)放置到Alphameter检测仪探测器的探头孔上}。通过按下电脑上的Space键可进行连续检测,然后按下回车键或用鼠标点击OK。
Manual absorber control K3 – V9 Optosol GmbH10
此处所指的暗室可以是一个空间足够大的纸板箱,以避免环境光线进入Alphameter检测仪探头的积分球内。请确保Alphameter检测仪探头开孔外的10cm范围内无任何物体。否则所测得的吸收率可能只是待测件的部分吸收率,原因或许是检测环境没有达到理想的黑色环境。
按下 White ref (功能键 F2)即可开始第二项校准。同样会出现一个信息对话窗口,提示您将白色参考插头(随机附带)放置到Alphameter检测仪探测器的探头孔上。随后的操作步骤同上。请注意,白色标准件(White Standard)指示的96%反射比为原始系数,其中未考虑球体透光修正。存储在文件iram.ini中的更正值为97.5%。白色参考检测是*为重要的检测项目,要尽可能地进行多次检测。考虑到球体的透光率,还需进行第三种参考样品的检测。球壁的反射比决定了探测器接收到的辐射量或决定了所谓的球体透光率。当样品作为球壁的一个组成部分的情况下,球体的透光率将取决于样品的透光率。其数字上的修正通过检测第三个参考样品得以完成。按下Grey ref(功能键F3) 按钮即可进行灰色参考值检测。此项检测不经常进行,只有在检查球体透光率是否因球面不干净而发生变化时进行。
参考测量的校准系数存储在IRAN.ini文件(目录IRAM)中。当参考测量完成时,参考按钮(功能键F1-F3)从粗体变为正常。 否则将使用旧设置进行样品测量。 我们建议在设备关闭时,时常重复参考测量。 当进行参考测量时,参考测量的标签从粗体字符变为正常。如果您认为白色参考样品不是理想的白色,可以在去离子水用240号砂纸对参考插头进行清洁。
Manual absorber control K3 – V9 Optosol GmbH11
通过把平面样品直接放置在alphameter检测器头的检测孔上之后,通过按下 样品(F4功能键)来进行吸收测量。对于测量波长范围(0.38-1.55μm)的时候,完整的太阳能吸收值可以立即被计算出,存储并显示在屏幕上。
使用发射率检测仪进行检测
发射率检测仪检测的是黑色发光体发射出的和待测样品反射出的辐射。 发射率检测仪的开口式设计可以进行平板表面或圆柱形表面物体的检测,而且平面样品可以直接放在发射率检测仪探测头的探测孔上,但是这种设计使发射器对温度的变化很敏感,因此,应慢慢的操作发射率检测仪,以避免空气流动而导致发射器温度变凉。同时,还要考虑高发射率样品可能被快速加热这一因素。被加热样品的辐射会对检测产生干扰。因此,对高发射样品的检测应尽快完成。 样品必须具有小于70%的发射率,以确保测量的足够的精度。
在启动检测仪器半小时后,等到能源和积分球处于平衡状态之前,请先等待。 使用发射率检测仪进行检测要求先进行两种参考标准的检测,一个为低发射率参考标准检测,另一个为高发射率参考标准检测。
平面样品:
首先通过按下按钮 Low e ref(F6功能键)对低发射率(金属片)参考标准进行检测,然后通过按下按钮 High e ref (F7功能键)对高发射率(镀金属片)参考标准进行检测。
管状样品:
首先通过按下按钮 Low e ref(F6功能键)对低发射率(金属部分)参考标准进行检测,然后通过按下按钮 High e ref (F7功能键)对高发射率(弯曲的金属板)参考标准进行检测。
按下 Sample (F9功能键)可以开始对样品进行测量。在波长范围3.9-50 (线性外推法)μm用一个加权积分和在iram.ini 文件中指定的普朗克黑体辐射定律热发射率被计算出。
同样,全部的检测结果将储存到IRAM.txt文件里。不会有检测结果丢失现象发生。
综合测量
建议一起进行吸收和发射测量,因为发射率也由NIR值决定。这可以通过用按钮(F11功能键)测量吸收率,随后进行发射测量(F12功能键)(将样品转移到发射装置)之后进行。
光谱的两个部分将被合并和显示。
单次测量(左)和组合测量(右)之间的差异
如果选择了组合测量,则光谱反射率的插入曲线会被显示(右侧图)。现在 这个太阳能吸收率和热发射率在波长范围0.38-50(线性外推法)μm被计算出来,并存储在IRAM.txt 文件里的一行中。
故障排除指南
Alphameter检测仪的二级管不亮
请检查串行端口的定义或检查电子盒主开关上的保险丝。
使用Alphameter检测仪进行检测时,检测值异常
请使用诊断窗口选项检查原始数据值。进行重复检测后某个光源仍有较大误差时,说明该光源存在故障。
使用发射率检测仪进行检测时,检测值异常
请确保红外光源处于正常的工作状态。
交付的物品
交付的物品包括在内的是:
-电子控制主机
-alphameter 检测器头:
-alphameter 配件:
白色参考物
灰色参考物
黑色参考物
-发射率检测仪探头
-发射率检测仪配件:
低发射率参考标准物(金属)
高发射率参考标准物
-电脑连接线
-电源线
-软件
-电脑(可选)
- 推荐产品
- 供应产品
- 产品分类
- 日本JEOL粉末装置TP-99010FDR
- PICOSUN P-200S Pro ALD生产型原子层沉积机
- 芬兰PICOSUN标准型原子层沉积机R-200
- N-TEC全自动片机晶圆贴BW 243FA
- 芬兰PICOSUN标准型原子层沉积机R-200
- 德国Moeller光学动/静态接触角仪/界面测量仪SL150
- 德国Sentech集成多腔等离子刻蚀和沉积机
- N-TEC全自动真空压合机BW228-4FA
- 美国Nano-master原子层沉积机NLD-4000
- 德Iplas微波等离子化学气相沉积MPCVD
- P-1000 Pro ALD芬兰PICOSUN生产型原子层沉积机
- N-TEC全自动片机晶圆贴BW 243FA
- 日本JEOL能谱仪JED-2300T
- 日本JEOL离子切片仪EM-09100IS
- 日本JEOL场发射冷冻电子显微镜JEM-Z200FSC
- 日本JEOL能谱仪,JED-2300,JED-2300F