量子科学仪器贸易(北京)有限公司
首页 > 产品中心 > X射线仪器 > easyXAFS-台式X射线吸收精细结构谱仪
产品详情
easyXAFS-台式X射线吸收精细结构谱仪
easyXAFS-台式X射线吸收精细结构谱仪的图片
参考报价:
面议
品牌:
关注度:
1590
样本:
暂无
型号:
产地:
美国
信息完整度:
典型用户:
暂无
索取资料及报价
认证信息
高级会员 第 2
名 称:量子科学仪器贸易(北京)有限公司
认 证:工商信息已核实
访问量:127665
手机网站
扫一扫,手机访问更轻松
产品分类
公司品牌
品牌传达企业理念
产品简介

台式X射线吸收精细结构谱仪(XAFS/XES)

美国easyXAFS公司**推出台式X射线吸收精细结构谱仪(XAFS/XES),采用独有的X射线单色器设计,无需同步辐射光源,在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析,提供XAFS和XES两种测量模式,并轻松相互切换。以极高的灵敏度和光源质量,广泛应用在催化、电池等研究领域,实现对元素的测定、定量和价态分析等。

XAFS300

XES100

easyXAFS产品参数

X射线源:

XAFS: 1.2-kw XRD(Mo/w)

XES: 100w XRF 空冷管(Pd/W)

能量范围: 5-12keV; 可达19keV

分辨率: 0.5-1.5eV

样品塔: 7位自动样品轮

布拉格角: 55-85 deg

检测器: SDD

单晶尺寸:

球面单晶(Si/Ge)

直径10cm,曲率半径100cm

软件: LabVIEW, 脚本扫描

扩展: 仪器可外接设备,控制样品条件

分析仪校准: 预先校准,快速插拔更换

easyXAFS 产品优势

- 无需同步辐射光源

- 科研级别谱图效果

- 台式设计,实验室内使用

- 可外接仪器设备,控制样品条件

- 可实现多个样品或多种条件测试

- 操作便捷、维护成本低

easyXAFS 应用案例谱图展示

1、XAFS300

2、XES100

■ XES Mode

■ XAFS Mode

easyXAFS 已发表文章

1. Jahrman, Seidler, et al., J. Electrochem. Soc. 2019.

2. Jahrman, Holden, et al., Rev. Sci. Instrum. 2019.

3. Bès, Ahopelto, et al., J. Nucl. Mater. 2018.

4. Mundy, Cossairt, et al.,Chem Mater 2018

5. Jahrman, Seidler, and Sieber, Anal. Chem., 2018

6. Holden, Seidler, et al., J. Phys. Chem. A, 2018.

7. Stein, Holden, et al., Chem. Mater., 2018.

8. Padamati, Angelone, et al., JACS, 2017

9. Mortensen, Seidler, et al., Phys Rev B, 2017.

10. Valenza, Jahrman, et al., Phys Rev A, 2017

11. Mortensen, Seidler, et al., XAFS16 conference proceedings.

12. Seidler, Mortensen, et al., XAFS16 conference proceedings.

13. Seidler, Mortensen, et al., Rev. Sci. Instrum. 2014.

  • 推荐产品
  • 供应产品
  • 产品分类
我要咨询关闭
  • 类型:*     
  • 姓名:* 
  • 电话:* 
  • 单位:* 
  • Email: 
  •   留言内容:*
  • 让更多商家关注 发送留言