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R9plus 扫描探针显微镜控制器
产品简介: 继美国RHK Technology公司推出的革命性扫描探针显微镜控制平台R9取得极大成功之后,其研发团队通过升级其软硬件和功能隆重发布了R9plus控制器。相比于R9控制器,R9plus性能提升主要包括: > 全新的FPGA固件构架极大地提高了配置灵活性 > 对于高级测量提供了60多个可用的数据通道 > 数据流和扫描速度均提高5倍 > 优化的高压输出电路板,噪声水平降低到R9控制器的1/4 > 两个扫描探针控制系统 > 可设置任意密度的网格点进行图谱测量 |
产品特点 极低噪音与超高稳定性! | |
单箱集成所有输入、输出及控制模块 | R9plus更低的噪声水平 |
极低噪声,超高速度和精度的数模转换接口 | 线性电源提供极低噪声密度 |
开放性与灵活性极高! | |
HDLTM软件界面 R9扫描探针显微镜控制平台采用了RHK独有的IHDLTM图像化硬件描述与编辑软件,通过简单的“拖放”操作,即可完成对硬件和实验的所有设置。 同时IHDLTM全面兼容LabVIE和MATLAB,为实验的设计提供了无限的可能。 特制的硬件系统 采用RHK特制的且优化设计的硬件模块,利用RHK UltraDAC技术以极低的噪音水平对所有的信号进行数字化运算和处理。 硬件模块包括:PLLs, lock-ins, filters, amplifiers, phase shifters, counters等。 | |
强大而优异的功能 将所有SPM的功能模式集中到一起,通过软件即可快捷的对硬件系统进行重新定义。 无需外界模块和设备可实现包括STM、dI/dV隧道谱、接触式&非接触式AFM、导电AFM、开尔文探针显微镜KFM、SNOM等功能。 兼容所有商业化的STM/AFM系统,并实现对他们的全面控制。 | |
功能强大,性能可靠! | > 支持所有的扫描探针显微镜操作模式,包括:STM、dI/dV谱、接触式和导电式AFM、非接触式AFM、开尔文探针KFM等。不需要添加任何外置设备; > 支持音叉式和微悬臂式AFM; > 支持所有非接触式AFM模式 -- PLL、Lock-in、Self Oscillation。接触式AFM模式 -- Constant Excitation、Constant Signal和Q-control等。采用全数字式Phase Shifter,保证了系统的稳定性;; > PLL和Multiple Lock-in通道一起使用,可以同时采集多个谐频信号; > SNOM:多个高速输入通道可以同时对表面成像,并采集光学信号(模拟或脉冲计数); > KFM:无需添加任何外置的设备,即可完成KFM实验; > 全面兼容LabVIEW和MATLAB等语言与程序; |
极强的谱图能力! 20 monolayer Pb/1 monolayer PTCDA molecule/20 monolayer Au/ Si substrate. Smaller gap is due to proximity effect of superconductivity. | 20 monolayer Pb/1 monolayer PTCDA molecule/20 monolayer Au/ Si substrate. Smaller gapis due to proximity effect of superconductivity. |
利用R9plus采集扫描隧道谱图,允许实时显示10条阈值谱线,且谱线的每个像素点可以单独显示和分析。 |
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